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產品資訊 系統測台 最新消息
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    光軸校準 (Boresight) 測試：確保多重感測器平台的精準協同

    探索 SBIR 如何開發多樣化多重感測器光軸校準測試系統及核心之SBIR 光軸校準模組，實現紅外光、可見光CCD與雷射（1064nm, 1550nm, 1570nm）間精確且可重複的光軸對準分析。
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    一站式驗證多重感測器平台：SBIR 整合測試系統的技術突破與應用

    深入剖析 SBIR 如何透過單一測試設備整合紅外光、可見光及雷射測試模組，並結合 IRWindows™ 自動化軟體，為搭載多樣化感測器的球型雲台等複雜平台提供全面的性能特性分析與嚴格的確效驗證
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    駕馭多光譜視界：SBIR 可見光/紅外光融合感測器測試的尖端解決方案

    深入剖析 SBIR 如何透過整合多波段光源、精密光束合路技術及先進目標投影儀，為可見光、NIR、I² 及熱成像融合系統提供全面的性能特性分析與嚴格驗證
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    SBIR 可見光感測器測試系統：確保成像品質與色彩保真度的全方位解決方案

    深入探索SBIR如何透過整合先進可見光目標投影儀、積分球光源及IRWindows™自動化軟體，為可見光、近紅外與短波紅外CCD/CMOS相機提供從NEI到MTF、MRC及色彩還原的全面特性分析與精確驗證
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    SBIR NIR/SWIR相機測試系統：精確表徵近紅外光與短波紅外光成像性能

    深入探索 SBIR 如何透過整合先進可見光目標投影儀、積分球光源及 IRWindows™ 自動化軟體，為近紅外光與短波紅外光 CCD 相機提供從 NEI 到 MTF、MRC 的全面特性分析與精確驗證。
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    精準洞悉微光視界：SBIR I² 影像增強設備全方位測試解決方案

    透過整合先進目標投影儀與 Infinity VSX 系列積分球光源，實現對各世代影像增強管在低至 0.001 呎朗伯極端微光條件下的增益、解析度、訊噪比等核心性能的全面特性分析與精確驗證
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    SBIR 熱像儀測試系統：精準驗證紅外線成像性能的完整解決方案

    深入了解 SBIR 如何透過其標準及客製化紅外線目標投影儀系統與功能強大的 IRWindows™ 軟體，為各行業提供 NETD、MTF、MRTD 等多項關鍵性能的可靠、高效測試，全面滿足實驗室研發與產線品管的嚴苛需求
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    IRWindows：加速軍事光電系統測試程式集 (TPS) 開發與執行效率

    比較 IRWindows 與 ATLAS 於軍用光電 TPS 開發的差異，闡述 IRWindows 如何透過圖形化介面、即時控制、影像檢視及開放架構等優勢，大幅縮短 TPS 開發時間（從數月至數週）與執行時間，提升測試效率。
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    從實測到預測：IRWindows 攜手 NV-IPM 革新光電系統性能評估模式

    探討 SBIR IRWindows 如何整合 NV-IPM 模型，透過 SITF、3D雜訊、MTF 等客觀量測，產生「量測系統組件」(MSC)，精準預測 EOIR 成像系統的目標任務性能 (TTP) 與作用距離，提升設計驗證與跨實驗室結果一致性。
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    非光學合路多光譜光源：紅外線、可見光與雷射整合測試技術解析

    深入解析先進非光學合路多光譜光源技術，整合紅外線、可見光與雷射源，無需分光鏡，MSS 與 MLS 系統為距離閘控相機、多光譜感測器提供均勻、穩定的寬頻光譜刺激，適用於實驗室與現場 EO 測試，提升目標辨識與解析度驗證。
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    高動態範圍低照度可見光源校準：VSX與VEO-2系統光譜校正技術與誤差分析

    深入解析高動態範圍、低照度可見光源精密校準技術，聚焦SBIR VSX與VEO-2系統。詳述光譜響應、色溫控制、衰減機制及其對輻射亮度準確度的核心影響，闡明光譜補償方法與誤差來源，助力工程師實現跨數量級的穩定光譜輸出與精準光電測試。
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    精密光譜輻射校準技術白皮書：黑體源校準站於先進紅外線測試之應用

    本白皮書聚焦紅外線輻射源的精密光譜輻射校準需求，詳解校準站設計、差分量測法、溫度梯度與發射率推導；揭秘高精度黑體輻射源校準原理、實驗裝置與數據分析，探索提升紅外線感測與成像系統量測準確性。
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    MRTD測試技術深度解析：紅外線系統性能評估與創新方法白皮書

    本白皮書專為工程師解析MRTD測試技術：深入探討最小可解析溫差(MRTD)原理、傳統與等速升降溫等創新量測方法、數據判讀及影響因素，助您精準評估紅外線系統性能。
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    先進輻射校準技術白皮書：增強型黑體於研發、半導體及工業測試之應用

    本白皮書聚焦研發、半導體與工業自動化對精密紅外線測試的需求，深度解析SBIR增強型大面積黑體在輻射校準的技術突破與應用。
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    精密紅外線測試系統組件解析：黑體、準直儀與目標輪技術應用

    本白皮書深入解析紅外線測試系統核心組件，包括各類型黑體（腔式、高溫、差分）、目標、準直儀及目標輪的技術原理與應用。探討其在研發、半導體及工業自動化領域的關鍵性。
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    輻射溫度精確量測：解析黑體發射率、波長依賴性及非線性誤差與校正方案

    深入探討輻射溫度與測溫溫度的差異來源，包含黑體發射率、光學及大氣衰減，以及輻射率與溫度的非線性關係。分析其對絕對溫度及溫差量測的影響、波長依賴性，並提供 SBIR 精密輻射校正解決方案。
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