影像 | 光電紅外線

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    RTB 3000 紅外線探測與陣列測試系統

    SBIR RTB 3000 紅外線探測與陣列測試系統,提供整合性高精度測試。支援單一元件至 FPA 評估,涵蓋聚焦/全域/準直模式,執行 MTF, D*, NETD 等參數分析,具高彈性、易整合特性,適用研發與產線。
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    Common E-O 通用光電測試模組

    Common E-O 通用光電測試模組,專為第一線維護人員設計,快速評估可攜式光電瞄準鏡/觀測鏡健康狀態;整合 SBIR IRWindows™4,提供準直儀、多波長光源、CCD 相機、mK 級溫控與自動化測試。支援雷射系統擴充。
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    Common E-O 緊湊型電光雷射測試模組

    搭載 IRWindows™4 自動化平台,支援雷射與電光感測器精準測試、小型化攜行設計,為第一線維護與系統健檢提供完整解決方案。
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    VEO-2 電光測試系統

    SBIR VEO-2 電光測試系統,小型化便攜設計,整合 IR、VIS、DVO 與雷射量測功能,支援野外測試場域快速部署。
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    紅外線測試 – Infrared

    奧創 提供針對Image|Infraret|Motion全套的模擬測試,並可結合硬體迴路系統(HIL)完整呈現.