雷射測試器

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    SBIR 光電系統雷射性能特性化測試方案

    深入了解 SBIR 全方位雷射測試解決方案,涵蓋 LRTM 測距模擬、BAM 同軸校準、TEM 脈衝分析、PLD 目標投影及 MSS 多光譜源,為您的光電系統提供精確性能特性化。
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    脈衝雷射二極體目標投影器

    SBIR 脈衝雷射二極體目標投影器,提供 1064nm 均勻準直脈衝雷射輸出,具備 20-12,500Hz PRF、20ns 脈寬與高穩定性,適用於雷射接收器/探測器測試及雷射導引飛彈四象限探測器對準,包含牛頓式準直儀、雷射源/控制器及光纖/針孔目標組件。支援手動與 Ethernet 遠端控制。
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    MSS 多光譜光源

    SBIR 多光譜光源 (MSS) 運用積分球整合黑體與 1.06/1.57nm 脈衝雷射,專為距離閘控相機之同步瞄準軸校準與影像解析度測試設計;iProbe 技術確保 ±0.01°C 高精度溫度控制;支援 GPIB/RS-232 介面,整合多元測試模組。
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    LRTM 雷射測距測試模組

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    /* 讓所有超連結在新視窗開啟 */


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    LRTM 雷射測距測試模組

    整合 1064/1540/1570nm 雷射源
    50m 至 60km 動態距離模擬與精密脈衝控制

     

    SBIR 雷射測距測試模組(LRTM)乃專為雷射測距儀與雷射接收器設計,可用於執行測距精度和接收器靈敏度等多項關鍵測試;該機種採用多達三種不同雷射二極體(波長涵蓋 1064nm、1540nm 與 1570nm)與光纖網路,以產生精確且動態的高精度脈衝雷射輸出;其核心技術包含校準偵測器和電控可變衰減器,可精確設定脈衝功率,並結合精密的時序電路,能動態模擬從 50 公尺至 60,000 公尺的目標距離。

    SBIR LRTM 配備一參考平面鏡,可利用自動準直(autocollimation)技術,將 LRTM 與待測物(UUT) 精確對準;此外,亦提供紅外線與可見光目標,便於將 UUT 精確瞄準此 LRTM 的輸出/輸入埠。



    LRTM 三種主要操作模式

    連續脈衝模式

    LRTM 作為連續脈衝雷射源運作,適用於接收器測試;在此模式下,波長、脈衝速率與脈衝功率均可由使用者設定。

    電氣觸發模式

    LRTM 可作為電氣觸發的脈衝雷射源,用以測試雷射光點追蹤器;在此模式下,每接收一個觸發脈衝,LRTM 即產生一個對應的雷射脈衝,其波長和脈衝功率由使用者設定。

    光學觸發模式

    LRTM 亦支援光學觸發,可產生單一或雙重雷射脈衝,用於驗證雷射測距儀精度;使用者可設定波長、脈衝功率、第一脈衝的模擬距離,以及第二脈衝的模擬距離(若需要);透過控制第二脈衝的功率和相對距離,能夠模擬在受遮蔽環境(obstructed environment)下的精確測距情境。

    功能特色


    整合 1064 nm、1540 nm 與 1570 nm 三波長雷射源
    支援連續脈衝模式
    支援電氣觸發模式
    支援光學觸發模式
    具備首/末脈衝控制能力,模擬複雜測距場景
    內建對準輔助機制,易於與 UUT 對準


    規格






    參數


    規格




    波長


    1,064nm、1,540nm、1,570nm




    頻寬


    ≤ 10nm (FWHM)




    最大脈衝功率


    ≥ 1,000 nW  (1 µW)




    功率動態範圍


    > 40 dB




    功率振幅精度


    +/- 10%




    脈衝寬度


    20 ns +/- 10 ns




    第二脈衝比例精度


    設定值的 +/- 10%




    模擬距離


    50 至 60,000 公尺




    模擬距離精度


    +/- 1.5 公尺或 0.01%,以較大者為準




    第二脈衝延遲範圍


    +/- 10 至 +/- 2,000 ns (相對於第一脈衝程式設定之延遲)




    光學觸發靈敏度


    輸入脈衝 ≥ 150 kW  即可觸發




    脈衝週期範圍


    50 msec 至 1 sec (20Hz 至 1Hz) (自由運轉模式)




    脈衝週期精度


    +/- 100 ns (自由運轉模式)




    LRTM 光束發散角


    2.5 mrad




    最大輸入能量密度


    1.25 J/cm² @ 1064nm、30ns 脈衝寬度




    對準雲台行程


    > +/- 2 mrad




    對準雲台步進解析度


    65 µrad




    雷射光束輸出與參考平面鏡對準度


    100 µrad






    下載

    Laser Range Test Module Datasheet >
     


    延伸閱讀:深入探索SBIR紅外線測試技術與應用實例

    為了協助您更全面地理解SBIR紅外線測試解決方案的卓越性能及其背後的堅實技術基礎,我們精心準備了一系列專業技術文章。這些資源不僅闡述了關鍵技術的原理與細節,更展示了SBIR在提升量測精度與系統可靠性方面的持續努力與實際成果。歡迎您深入閱讀,發掘更多關於SBIR解決方案如何滿足您在不同應用領域的嚴苛需求的實用資訊:


    先進輻射校準與黑體技術應用:
    深入解析SBIR在增強型大面積黑體、高發射率塗層及精密溫控演算法等領域的最新研發成果,及其在驅動研發、半導體及工業自動化整合測試方案中的關鍵角色。
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    全面介紹構成精密紅外線測試系統的基礎組件,包括各類型黑體、紅外線準直儀與目標輪的技術原理、選型考量及實際應用。
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    為您建立紅外線物理學、熱影像原理及相關測試方法學的扎實基礎,助您更好地理解和應用紅外線檢測技術。


    透過這些深度解析,我們希望能讓您對SBIR解決方案的技術實力與應用價值有更透徹的認識,並為您的專案選擇提供有力的技術支持。
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    TEM 時間能量模組

    使用 SBIR 的 TEM 精準量測雷射脈衝能量、寬度與時間特性 (900-1700nm),配備高速數位器與熱釋電偵測器,提供可靠診斷。
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    BAM 視軸校準模組

    探索 SBIR 視軸校準模組 (BAM),透過自動準直與 IRWindows™5 軟體,精準共軸校準多重成像系統與雷射;提供 SWIR 或矽基相機選項,涵蓋 0.4-2µm 波段,。適用於準直儀整合或開放平台。