介電材料量測 - Dk/Df

  1. 測試與量測
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    高頻介電材料特性分析解決方案

    從 RF 到 THz，本方案提供完整的高頻介電材料特性分析，內容涵蓋 VNA 量測、S 參數轉換與治具選擇，助您精準評估 PCB、薄膜與液體等材料。
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    D 頻段介電質特性分析解決方案

    透過 QWED 的法布里-珀羅開放式諧振器 (FPOR) 解決方案，搭配 R&S®ZNA 向量網路分析儀，在 110 GHz 至 170 GHz 頻率範圍內，精準量測介電質薄板的複介電常數 (Dk) 與損耗因數 (Df)，適用於 6G 材料特性分析。
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    Dk/Df 介電材料量測整合解決方案

    提供 10MHz-1.1THz 全頻段 Dk/Df 量測方案，整合 R&S VNA 與 SPDR/SCR 治具，符合 IPC 標準，支援自動化運算與 500°C 高溫測試，加速 5G/6G 材料研發驗證。