半導體應用
-
MORE
HTOL 射頻壽命測試系統
支援 SAW、BAW、FBAR 等高頻元件長時 HTOL 測試,Becker 系統具備高隔離多通道架構、獨立 ALC 控制、封閉式功率迴路、無過衝輸出與遠端監控能力,可精準施加射頻應力於 125°C 高溫下運行逾 1000 小時,專為高頻元件壽命統計分析與失效預測而設計。 -
MORE
EFEM 高效、超潔淨晶圓處理解決方案
探索超潔淨且可靠的 EFEM 晶圓處理平台,具備高精度對準、離子防靜電、光學字元識別(OCR)及多載入口配置,助您加速進入市場並提升製程效率。