-
發射模式下的波束成形天線量測
在進行波束成形權重的驗證時，需具備快速且精確的測試能力，例如：在進行碼本（codebook）生成或波束成形演算法的開發與驗證時，本文說明了 R&S 向量網路分析儀（VNA, Vector Network Analyzer）用於波束成形的多單元天線被動部分進行完整分析時的獨特應用。
發射模式下的波束成形天線量測
-
-
8 埠 VNA 訊噪比、動態範圍與高速背板除錯：深度 S 參數分析
深入解析 8 埠 VNA 如何提升訊噪比、動態範圍，並透過頻域 S 參數（SDD21, SCD21, SDC21, NEXT, FEXT）精準診斷高速背板的設計缺陷與熱漂移問題。
8 埠 VNA 訊噪比、動態範圍與高速背板除錯：深度 S 參數分析
-
-
毫米波量測解決方案 - 高達 1.1 THz 的向量網路分析
使用 R&S ZVA-Zxxx 與 ZCxxx 毫米波轉換器，將 R&S ZNA 向量網路分析儀的頻率範圍擴展至 1.1 THz，提供高輸出功率與寬廣動態範圍，適用於 6G、汽車雷達與晶圓級元件特性分析。
毫米波量測解決方案 - 高達 1.1 THz 的向量網路分析
-
奧創系統科技 | 資通安全政策公告
奧創系統科技有限公司致力於維護資訊資產的最高安全標準，為此本公司特頒布《資通安全政策聲明》
奧創系統科技 | 資通安全政策公告
-
【測試效率革命】別再讓S參數蒙蔽你！一次搞懂PA全方位特性分析
您的功率放大器(PA)S參數完美，上板後性能卻一塌糊塗？本文深入剖析S參數之外的P1dB、IP3、雜訊指數等關鍵指標，揭示傳統多機測試痛點，並提出以VNA為核心的一站式整合測試方案，助您提升研發效率。
【測試效率革命】別再讓S參數蒙蔽你！一次搞懂PA全方位特性分析
-
設計定成敗：從源頭攻克PA設計最大難題 — 精準阻抗匹配
本文深入探討功率放大器(PA)設計中最關鍵的阻抗匹配，文中將破除50歐姆迷思，解釋為何模擬常與現實不符，並詳解如何利用Load-Pull（負載拉移）技術找到最佳Pout與PAE的黃金阻抗點，確保設計成功並加速產品上市。
設計定成敗：從源頭攻克PA設計最大難題 — 精準阻抗匹配
-
量子視野：一份通往運算次世代革命的現況與未來
想知道量子電腦是什麼嗎？本文用最親切的比喻解釋量子疊加與糾纏，帶您認識IBM、Google等巨頭的最新進展、對未來加密貨幣與AI的衝擊，並探討革命性的後量子密碼學(PQC)。
量子視野：一份通往運算次世代革命的現況與未來
-
解鎖 JADC2：延展實境 (XR) 與軍事元宇宙的決勝力
深入分析 JADC2 框架，探討延展實境 (XR) 如何透過合成訓練環境 (STE) 與數位孿生成為實現「軍事元宇宙」的關鍵，了解未來戰爭的挑戰與機會。
解鎖 JADC2：延展實境 (XR) 與軍事元宇宙的決勝力
-
-
5G 物聯網革命：RedCap、NTN 與全球連接的未來
深入分析 5G NR-Light (RedCap)、NTN 與 mMTC 物聯網技術，比較其性能、探討商業化挑戰、市場前景與生態系發展，並為企業提供具體的應用場景與商業變現策略，掌握次世代物聯網商機。
5G 物聯網革命：RedCap、NTN 與全球連接的未來
