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SBIR 提供高精度可見光與紅外線/FLIR光電量測目標板，涵蓋 MRTD、MTF、對焦、失真等多種測試應用，符合 MIL-STD 標準，支援發射式、反射式與客製化設計，滿足嚴苛量測需求。

深入了解 SBIR 全方位雷射測試解決方案，涵蓋 LRTM 測距模擬、BAM 同軸校準、TEM 脈衝分析、PLD 目標投影及 MSS 多光譜源，為您的光電系統提供精確性能特性化。

SBIR 300 系列電動目標輪提供優於 0.001" 的定位重複性、高熱穩定性與零背隙設計；專為搭配黑體與積分球光源，支援 MRT、MDT、MTF、NEDT 自動化測試。是國防、工業與研究應用的理想選擇，並可選配對準照明器。

SBIR 脈衝雷射二極體目標投影器，提供 1064nm 均勻準直脈衝雷射輸出，具備 20-12,500Hz PRF、20ns 脈寬與高穩定性，適用於雷射接收器/探測器測試及雷射導引飛彈四象限探測器對準，包含牛頓式準直儀、雷射源/控制器及光纖/針孔目標組件。支援手動與 Ethernet 遠端控制。

SBIR 多光譜光源 (MSS) 運用積分球整合黑體與 1.06/1.57nm 脈衝雷射，專為距離閘控相機之同步瞄準軸校準與影像解析度測試設計；iProbe 技術確保 ±0.01°C 高精度溫度控制；支援 GPIB/RS-232 介面，整合多元測試模組。

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LRTM 雷射測距測試模組

整合 1064/1540/1570nm 雷射源
50m 至 60km 動態距離模擬與精密脈衝控制

 

SBIR 雷射測距測試模組（LRTM）乃專為雷射測距儀與雷射接收器設計，可用於執行測距精度和接收器靈敏度等多項關鍵測試；該機種採用多達三種不同雷射二極體（波長涵蓋 1064nm、1540nm 與 1570nm）與光纖網路，以產生精確且動態的高精度脈衝雷射輸出；其核心技術包含校準偵測器和電控可變衰減器，可精確設定脈衝功率，並結合精密的時序電路，能動態模擬從 50 公尺至 60,000 公尺的目標距離。

SBIR LRTM 配備一參考平面鏡，可利用自動準直（autocollimation）技術，將 LRTM 與待測物（UUT） 精確對準；此外，亦提供紅外線與可見光目標，便於將 UUT 精確瞄準此 LRTM 的輸出/輸入埠。



LRTM 三種主要操作模式

連續脈衝模式

LRTM 作為連續脈衝雷射源運作，適用於接收器測試；在此模式下，波長、脈衝速率與脈衝功率均可由使用者設定。

電氣觸發模式

LRTM 可作為電氣觸發的脈衝雷射源，用以測試雷射光點追蹤器；在此模式下，每接收一個觸發脈衝，LRTM 即產生一個對應的雷射脈衝，其波長和脈衝功率由使用者設定。

光學觸發模式

LRTM 亦支援光學觸發，可產生單一或雙重雷射脈衝，用於驗證雷射測距儀精度；使用者可設定波長、脈衝功率、第一脈衝的模擬距離，以及第二脈衝的模擬距離（若需要）；透過控制第二脈衝的功率和相對距離，能夠模擬在受遮蔽環境（obstructed environment）下的精確測距情境。

功能特色


整合 1064 nm、1540 nm 與 1570 nm 三波長雷射源
支援連續脈衝模式
支援電氣觸發模式
支援光學觸發模式
具備首/末脈衝控制能力，模擬複雜測距場景
內建對準輔助機制，易於與 UUT 對準


規格






參數


規格




波長


1,064nm、1,540nm、1,570nm




頻寬


≤ 10nm （FWHM）




最大脈衝功率


≥ 1,000 nW  (1 µW)




功率動態範圍


> 40 dB




功率振幅精度


+/- 10%




脈衝寬度


20 ns +/- 10 ns




第二脈衝比例精度


設定值的 +/- 10%




模擬距離


50 至 60,000 公尺




模擬距離精度


+/- 1.5 公尺或 0.01%，以較大者為準




第二脈衝延遲範圍


+/- 10 至 +/- 2,000 ns (相對於第一脈衝程式設定之延遲)




光學觸發靈敏度


輸入脈衝 ≥ 150 kW  即可觸發




脈衝週期範圍


50 msec 至 1 sec (20Hz 至 1Hz) （自由運轉模式）




脈衝週期精度


+/- 100 ns （自由運轉模式）




LRTM 光束發散角


2.5 mrad




最大輸入能量密度


1.25 J/cm² @ 1064nm、30ns 脈衝寬度




對準雲台行程


> +/- 2 mrad




對準雲台步進解析度


65 µrad




雷射光束輸出與參考平面鏡對準度


100 µrad






下載

Laser Range Test Module Datasheet >
 


延伸閱讀：深入探索SBIR紅外線測試技術與應用實例

為了協助您更全面地理解SBIR紅外線測試解決方案的卓越性能及其背後的堅實技術基礎，我們精心準備了一系列專業技術文章。這些資源不僅闡述了關鍵技術的原理與細節，更展示了SBIR在提升量測精度與系統可靠性方面的持續努力與實際成果。歡迎您深入閱讀，發掘更多關於SBIR解決方案如何滿足您在不同應用領域的嚴苛需求的實用資訊：


先進輻射校準與黑體技術應用：
深入解析SBIR在增強型大面積黑體、高發射率塗層及精密溫控演算法等領域的最新研發成果，及其在驅動研發、半導體及工業自動化整合測試方案中的關鍵角色。
紅外線測試系統核心組件詳解：
全面介紹構成精密紅外線測試系統的基礎組件，包括各類型黑體、紅外線準直儀與目標輪的技術原理、選型考量及實際應用。
輻射溫度量測：概念解析與誤差校正方案：
探討輻射溫度的基本概念、影響量測準確性的關鍵因素、常見誤差來源分析以及有效的校正與解決方案。
紅外線技術導論與熱影像測試基礎：
為您建立紅外線物理學、熱影像原理及相關測試方法學的扎實基礎，助您更好地理解和應用紅外線檢測技術。


透過這些深度解析，我們希望能讓您對SBIR解決方案的技術實力與應用價值有更透徹的認識，並為您的專案選擇提供有力的技術支持。

使用 SBIR 的 TEM 精準量測雷射脈衝能量、寬度與時間特性 (900-1700nm)，配備高速數位器與熱釋電偵測器，提供可靠診斷。

探索 SBIR 視軸校準模組 (BAM)，透過自動準直與 IRWindows™5 軟體，精準共軸校準多重成像系統與雷射；提供 SWIR 或矽基相機選項，涵蓋 0.4-2µm 波段，。適用於準直儀整合或開放平台。

深入了解 SBIR Infinity 差分黑體，具備 iProbe 獨立校準與 VANTABLACK 超高發射率選項，專為研發人員提供 mK 級穩定度與高均勻性，適用於精密的 NUC、MRT、MTF 紅外線感測器特性量測。

探索 SBIR Infinity DDB 雙差分黑體，專為精密紅外測試設計，提供獨立雙源、 mK 級穩定性、iProbe 智慧校準與 Vantablack 選項，適用於探測器 NUC、輻射度校準及高階系統驗證。

SBIR Infinity EX 系列絕對溫度黑體，具備毫卡文級穩定性、高均勻性及 iProbe 智慧校準，提供多種尺寸與溫度範圍，可選 VANTABLACK 塗層，紅外測試與校準的理想選擇。

專為紅外線感測器研發與測試設計的 SBIR EXLT 系列低溫黑體，具備 -40°C 極限低溫、mK 級穩定度與高均勻性；適用於需要精確控制低溫背景的應用。了解 iProbe 校準、VANTABLACK 選項與輻射補償功能。