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IRWindows™5 IR/EO 感測器自動化測試軟體

IRWindows™5 IR/EO 感測器自動化測試軟體

IRWindows™5 是一款先進的 IR/EO 感測器自動化測試軟體。支援紅外線、可見光與雷射系統效能測試，具備直覺式 GUI、gRPC 遠端介面、強化 SQLite 資料庫與即時分析工具 (連續 MTF/Boresight)。提供完整硬體/軟體統包解決方案，提升測試精度與效率。
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詳細介紹

IRWindows™5
IR/EO 感測器自動化測試軟體

整合先進分析工具與彈性操作模式，加速紅外線、可見光及雷射系統驗證

 

IRWindows™5 為 SBIR推出的先進的軟體工具，致力於自動化紅外線 (IR)、可見光及雷射系統的業界標準效能測試流程，涵蓋設定、執行、資料收集與結果分析； IRWindows™5 是當今業界最先進的商用 IR/光電 (EO) 感測器測試軟體套件； 此軟體在 Windows™ 作業系統環境下運作，交付時已安裝於選配了特定影像擷取卡 (frame grabber) 以支援待測物影像格式的高階 PC 電腦平台上； 同時也提供純軟體套件的選項； IRWindows™5 結合 SBIR 目標投影儀 (target projectors)，為測試工程師和技術人員提供了一套統包式 (turnkey)、自動化的硬體/軟體整合解決方案，實現全光譜感測器測試。

與先前版本相比，IRWindows™5 最顯著的差異化特色包含：

  • 全面革新的直覺式 圖形化使用者介面，所有主要功能皆可一鍵存取；
  • 支援 gRPC 基礎的遠端介面，可高效嵌入 ATLAS、NI™ TestStand 等應用程式中。

此外，現有功能亦有多項重大進化，包括：

  • 強化的 SQLite 資料庫與測試報告軟體，允許分析師將第三方應用程式直接連接至資料庫，挖掘大量資料集以進行趨勢分析；
  • 網路中心化資料相容性 (Net-Centric Data Compatibility)；
  • 整合多種即時分析工具，包括來自先前執行測試程序的感興趣區域 (ROI) 統計資料、連續調制轉換函數 (MTF) 及連續瞄準線功能。

功能特性

可編輯測試

提供程式碼層級的存取權限，用於建立新測試及修改現有測試演算法，以滿足獨特的測試需求； 此功能僅於選配的 Programmer Mode (程式設計師模式) 下提供。



三種操作模式

  • 在「Operator Mode (操作員模式)」
    提供簡易介面，讓測試技術人員能夠執行預先定義的測試序列 (Test Sequence)，其中包含操作說明、照片/影片，並將所有測試結果儲存至資料庫。
  • 「Developer Mode (開發者模式)」
    允許完整開發測試組態 (test configurations)、測試序列、UUT 定義及操作員說明； 它也讓經驗豐富的測試工程師能夠完全存取所有測試設備，進行手動與自動化操作。
  • 「Programmer Mode (程式設計師模式)」(選配)
    允許程式設計師完全存取測試定義 (test definitions)，能夠變更測試操作與資料分析方式，同時保護核心測試集。

易於使用

透過直覺式的圖形化使用者介面 (GUI)，測試工程師可以快速配置並執行 IRWindows™5 內含的任何測試； 資料收集與分析皆為自動化，測試結果可供列印、儲存或匯出以進行進一步分析。

完整的測試解決方案

IRWindows™ 5 在 Windows 10 環境下運作，提供獨立純軟體選項，或是一套包含高階 PC、遠端介面及影像擷取卡選項的完整系統。

精確的測試結果

自動化測試可縮短測試時間、降低成本，同時提升測試結果的一致性與精確度； IRWindows™5 採用業界標準的測試方法學與分析技術，提供市面上最精確、最完整的測試系統。

年度支援

每次購買 IRWindows™5，SBIR 皆提供免費的半天訓練課程，可透過網路研討會進行； 在初步訓練與隨附的 60 天支援期之後，SBIR 提供後續的支援合約，內容包括：

  • 每年最多 2 次軟體發布，包含新功能與錯誤修復；
  • 透過優先電子郵件地址，提供客戶支援請求的 24 小時優先回應；
  • 針對重大錯誤修復提供 24 小時回應時間的軟體修補程式 (無需等待下一次排定的軟體發布)。

測試概觀

紅外線 (IR) 測試

  • 3D 雜訊 (3D Noise)
  • 自動最小可解析溫差 (MRTD)
  • 瞄準線
  • 通道完整性
  • 連續瞄準線
  • 連續調制轉換函數 (MTF)
  • 串擾
  • 失真
  • 框線能量 (Ensquared Energy)
  • 視場角 (FOV)
  • 增益、偏移、壞點
  • 內插調制轉換函數 (Interpolated MTF)
  • 抖動
  • 最小可偵測溫差 (MDTD)
  • 手動最小可解析溫差 (Manual MRTD)
  • 調制轉換函數 (MTF)
  • 雜訊等效輻射度 (NER)、雜訊等效照度 (NEI)、雜訊等效通量密度 (NEFD)、雜訊等效功率 (NEP)、偵測度 (Detectivity, D)*
  • 雜訊等效溫差對背景溫度 (NETD vs. Background)
  • 訊號轉換函數 (SiTF)
  • 方波響應
  • 空間雜訊 [雜訊等效溫差] (Spatial Noise [NETD])
  • 時間雜訊 [雜訊等效溫差] (Temporal Noise [NETD])
  • 均勻度 (Uniformity)

可見光 (Visible) 測試

  • 3D 雜訊 (3D Noise)
  • 自動最小可解析對比度 (MRC)
  • 瞄準線
  • 連續瞄準線
  • 連續調制轉換函數 (Continuous MTF)
  • 失真
  • 視場角 (FOV)
  • 增益、偏移、壞點
  • 內插調制轉換函數 (Interpolated MTF)
  • 抖動 (Jitter)
  • 最小可解析對比度 (MRC)
  • 調制轉換函數 (MTF)
  • 雜訊等效輸入
  • 響應度
  • 灰階度
  • 時間雜訊
  • 均勻度

雷射 (Laser) 測試

  • 光束發散角 (Beam Divergence)
  • 光束輪廓 (Beam Profile)
  • 瞄準線 (Boresight)
  • 脈衝能量
  • 脈衝功率
  • 脈衝寬度
  • 脈衝時序
  • 測距儀精度
  • 接收器靈敏度

如需洽談您的特定測試需求，並了解 IRWindows™ 如何協助您節省開發時間，歡迎聯繫奧創系統。

下載

IRWindows™5 Datasheet >

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