全部系統測台
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七軸雷射動態控制系統
七軸雷射動態控制系統提供高速高精度雷射加工,適用於雷射微加工、鑽孔與表面結構化,搭載五軸伺服與雙軸振鏡掃描,承載 25 公斤以上,確保加工精度與靈活度。 -
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µARC 角度與旋轉量測系統
Aerotech µARC 系統提供 <1 微弧度(0.2 角秒)高精度角度與旋轉量測,具備 ABRT400 氣浮主軸 (air-bearing axis),適用於角度編碼器、光學棱鏡與電光成像感測器測試。 -
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直接寫入製造與計量系統
高精度直接寫入製造與計量系統具備五軸聯動運動控制、內建工具設置站、快速更換托盤及全整合自動化系統,適用於精密微加工、半導體製造及光學量測,確保最高測試精度與生產效率。 -
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Iridium 衛星通訊物理層測試系統 (PLTS)
Averna Iridium 銥衛星通訊測試解決方案提供全面的測試能力,包括設計驗證(DVT)與生產測試,專為支援 Iridium 衛星用戶設備(如手機與數據機)而設計,Iridium 物理層測試系統 (PLTS) 提供高達 3 GHz 的測試能力,支援發射(Tx)與接收(Rx)性能的完整驗證,幫助工程師加速產品上市並確保產品性能滿足標準。 -
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UniLine 通用一體化測試平台
UniLine 是一款靈活且可擴充的一體化測試平台,支援功能性、安全性、ICT 和 EOL 測試,適用於部分或完整 PCB 組件,其智慧測試解決方案結合工業 4.0 設計,提供多傳感器與多通道功能,自動化測試流程與資料管理,縮短上市時間,提升品質並降低成本,同時支援設備重複利用,實現快速投資回報 (ROI)。 -
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NTS 工業無損檢測與量測平台
Averna NTS智慧型無損檢測系統,結合多通道傳感器技術,實現非接觸式精確檢測,快速發現機械、電氣或熱故障,縮短測試時間並降低成本;其靈活架構支援自動化資料處理,易於整合至現有生產線,適用於空調、泵浦等產品的量產檢測,滿足工業 4.0 要求,內建預測性維護功能,助力製造商提升品質管理與生產效益。 -
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鏡頭模組測試平台
Averna 鏡頭模組測試平台提供了一個靈活且高效的解決方案,用於測試物鏡、目鏡及相機鏡頭,此平台可處理尺寸小至 2 mm³ 的鏡頭,專為生命科學、汽車與消費電子等應用設計,並提供 1µm 的精度量測與自動化配置。 -
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頭燈測試平台
Averna 頭燈測試平台是一個通用且靈活的光度視覺框架,涵蓋從光源到完整組裝車燈的測試解決方案,其測試範圍廣泛,包括光束調整、光度性能測試,以及近光燈、遠光燈及角燈的全面測試,滿足開發與生產需求。 -
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EFEM 高效、超潔淨晶圓處理解決方案
探索超潔淨且可靠的 EFEM 晶圓處理平台,具備高精度對準、離子防靜電、光學字元識別(OCR)及多載入口配置,助您加速進入市場並提升製程效率。 -
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電動車充電樁測台 - EVSE
探索專為工程師設計的 Averna EVSE 測試平台,結合 V2G 通訊模擬、電動車電池模擬、CCS 與 NACS 支援,提供高達 600 kW 的高功率測試能力。從驗證到生產,支援多協定標準如 DIN 70121、ISO 15118 和 IEC 61851,滿足電動車供應設備的高效測試需求,助力加速產品上市。