全部系統測台

從 RF 到 THz，本方案提供完整的高頻介電材料特性分析，內容涵蓋 VNA 量測、S 參數轉換與治具選擇，助您精準評估 PCB、薄膜與液體等材料。

透過 QWED 的法布里-珀羅開放式諧振器 (FPOR) 解決方案，搭配 R&S®ZNA 向量網路分析儀，在 110 GHz 至 170 GHz 頻率範圍內，精準量測介電質薄板的複介電常數 (Dk) 與損耗因數 (Df)，適用於 6G 材料特性分析。

針對衛星酬載及零組件的全方位 RF 測試方案，涵蓋群組延遲、NPR、EVM 與雜散輻射量測，以及在 TVAC 環境中的精準校準與數位介面測試。

提供完整的 5G NTN 測試方案，結合 R&S 儀器與 Maury Microwave 通道模擬器，精準模擬衛星鏈路衰減、都卜勒頻移等效應，執行接收器、端對端與酬載驗證。

R&S®ZNL 經濟型測試儀器，將向量網路與頻譜分析功能整合於單一設備，無需複雜配置，即可輕鬆量測多種放大器參數，涵蓋S參數、諧波失真與雜訊指數。

R&S 負載牽引 (load pull) 測試應用，透過阻抗變化對射頻功率放大器進行特性分析，內容涵蓋量測原理、關鍵參數優化、測試設置，並介紹 R&S®ZNA 向量網路分析儀在此應用的優勢。

此一站式解決方案透過諧波負載牽引技術，深入探索功率放大器在非線性區域的效能極限，藉由精確控制諧波阻抗，有效提升 PA 效率達 10% 至 20%，為新一代無線通訊系統提供最佳化的節能設計。

SBIR RTB 3000 紅外線探測與陣列測試系統，提供整合性高精度測試。支援單一元件至 FPA 評估，涵蓋聚焦/全域/準直模式，執行 MTF, D*, NETD 等參數分析，具高彈性、易整合特性，適用研發與產線。

Common E-O 通用光電測試模組，專為第一線維護人員設計，快速評估可攜式光電瞄準鏡/觀測鏡健康狀態；整合 SBIR IRWindows™4，提供準直儀、多波長光源、CCD 相機、mK 級溫控與自動化測試。支援雷射系統擴充。

搭載 IRWindows™4 自動化平台，支援雷射與電光感測器精準測試、小型化攜行設計，為第一線維護與系統健檢提供完整解決方案。

SBIR VEO-2 電光測試系統，小型化便攜設計，整合 IR、VIS、DVO 與雷射量測功能，支援野外測試場域快速部署。

支援 SAW、BAW、FBAR 等高頻元件長時 HTOL 測試，Becker 系統具備高隔離多通道架構、獨立 ALC 控制、封閉式功率迴路、無過衝輸出與遠端監控能力，可精準施加射頻應力於 125°C 高溫下運行逾 1000 小時，專為高頻元件壽命統計分析與失效預測而設計。