自動化 HTOL 射頻測試系統
高隔離・高精度・長穩定 —— 專為高頻元件壽命測試打造
Becker 提供業界領先的全自動化可靠度測試解決方案，為可立即部署、無需整合的完整 HTOL 射頻測試系統，專為高溫操作壽命（HTOL, High Temperature Operating Life）射頻測試應用而設計；其整合式模組化測試機架可在無須人工介入的情況下，自動完成從啟動、加載、加壓、監控至故障判斷的完整測試週期，並可涵蓋多組射頻頻率範圍以模擬真實應用條件。
Becker 以其高品質、可擴充的模組化設計概念為核心，可根據不同應用需求進行彈性配置與客製化調整，支援從少量測試通道至超過 200 通道的大規模架構，滿足多樣化產品與產能要求；所有待測物（DUT）均可在測試期間持續暴露於高功率、獨立控制且極高精度的射頻訊號之下，以真實模擬元件在極端環境下之使用壽命與可靠度，確保量測結果具備統計效度與可追溯性。
部署 Becker TSQA 系列 HTOL 射頻測試系統於可靠度實驗室
實驗室部署 Becker TSQA 系列 HTOL 射頻測試系統可大幅提升測試效率、資料品質與系統維護性，為射頻元件壽命預測與應力篩選提供自動化、高穩定性、高可擴充性的最佳解決方案。
減少研發與操作人員執行測試的工作量
系統內建網頁伺服器，可透過瀏覽器進行操作與設定，無需任何客製化軟體開發即可完成系統部署與控制；具備全自動化待測物（DUT）狀態監控功能，可持續量測 DUT 健康狀態並避免因中斷式檢查導致測試週期中斷；使用者可透過遠端連線即時監看測試狀態，無需進入實驗室環境，即可掌握應力條件與 DUT 響應；此外，測試控制邏輯具備異常保護機制，可自動因應 DUT 自我加熱、故障等異常狀況，自動關閉應力輸出以保護其他通道與設備安全。
提供品質更佳、數量更大的統計資料
系統可根據操作人員定義的時間間隔精確記錄 DUT 狀態參數，利於後續進行失效分析（FA）與壽命模型建構；內建封閉迴路控制機制（Closed-loop control），可自動校正輸出應力訊號，確保 DUT 所承受之電壓／功率／頻率等條件長時間保持穩定；此外，高隔離性設計可有效防止失效 DUT 對相鄰通道造成干擾，並排除溫度飄移等外部因素所造成的測試誤差，提升整體統計資料的可重現性與可信度。
簡化電纜與連接器之維護與除錯作業
多通道 HTOL 射頻系統常面臨連接器磨損、接觸不良或安裝錯誤等問題，Becker 系統採用圖形化使用者介面（GUI），可即時顯示各通道連接狀況與訊號回應，便於操作人員快速判斷電纜劣化、訊號異常或未連接情況；即便在網路中斷或控制電腦離線的狀況下，系統仍可獨立執行測試任務，待連線恢復後再同步測試結果，確保長時間測試不中斷；系統亦具備定期自我完整性檢查功能，可主動提示使用者任何潛在異常，降低維護成本與非預期停機風險。
Becker TSQA HTOL 射頻測試系統功能方塊圖 圖中顯示 Becker HTOL 測試系統的訊號處理流程，自外部訊號產生器輸出連續波或脈波訊號（CW / Pulse Generator）後，進入射頻切換與放大模組（ALC / High-Power Amplifier），並透過多通道架構將射頻訊號均勻分配至 80 個待測物（DUTs）；每通道輸出具備自動功率控制（ALC）與高隔離特性，可獨立控制與監測應力條件；所有通道回傳至功率檢測模組（Level Detector），搭配控制器（Controller）實現全迴路封閉控制與即時資料紀錄，提供高穩定性與高再現性的自動化壽命測試平台。
HTOL 射頻壽命測試：關鍵應用元件與設計考量
HTOL 測試（高溫操作壽命測試，High Temperature Operating Life）為微電子元件可靠度評估中最關鍵的加速壽命測試方法之一，適用於多種射頻元件與濾波器的應力耐受驗證。主要測試對象涵蓋：
- 表面聲波濾波器（SAW, Surface Acoustic Wave）
- 體聲波濾波器（BAW, Bulk Acoustic Wave）
- 薄膜體聲波濾波器（FBAR, Film Bulk Acoustic Resonator）
- 交叉聲波濾波器（XBAR, Cross-Bar Acoustic Resonator）
- 低溫共燒陶瓷濾波器（LTCC, Low-Temperature Cofired Ceramics）
- 以及複合型射頻元件如雙工器（Diplexer）、四工器（Quadplexer），甚至完整前端模組（RFFE, RF Front-End）
HTOL 測試會將大量待測物置於長時間的射頻應力與高溫條件下（典型為 125°C），並施加接近元件絕對最大額定值（AMR）之功率與電壓條件；射頻應力必須具備高精度、長期穩定性與無雜訊干擾特性，才能確保測試結果可用於建構統計壽命分布與預測模型，通常測試時間長達 1000 小時以上。
於 HTOL 測試期間，如有 DUT 發生失效，必須確保該 DUT 不會對其他通道之 DUT 造成電性或熱擾動影響，因此高通道隔離性與每通道獨立控制能力為關鍵設計指標。
Becker 專為此類射頻壽命測試場景開發之 TSQA 測試系統，具備下列特性：
- 高隔離多通道架構，確保單一 DUT 故障不會傳導至其他通道
- 高精度無過衝（Overshoot-Free）應力輸出控制，符合元件 AMR 測試標準
- 穩定性優於傳統測試平台，適用於嚴苛長時間壽命測試條件
透過 Becker HTOL 射頻測試解決方案，可協助元件製造商與系統商在開發階段即完成壽命評估與失效分析，提升產品品質與可靠度驗證效率。
產品列表與說明
|
產品型號 |
通道數 |
功率等級 |
頻率範圍 (MHz) |
系統類型 |
|---|---|---|---|---|
|
TSQA-80PMF |
80 |
5 W |
1700 – 9800 |
精密高功率自動化 HTOL 射頻系統 |
|
TSQA-1X8PMF |
8 |
5 W |
1700 – 9800 |
精密高功率自動化 HTOL 射頻子系統 |
|
TSQA-80PME |
80 |
10 W |
600 – 6000 |
精密高功率自動化 HTOL 射頻系統 |
|
TSQA-1X8PME |
8 |
10 W |
600 – 6000 |
精密高功率自動化 HTOL 射頻子系統 |
|
TSQA-1X80PM |
80 |
2.5 W |
20 – 3000 |
精密自動化 HTOL 射頻系統 |
|
TSQA-1X16PM |
16 |
2.5 W |
20 – 3000 |
精密自動化 HTOL 射頻系統 |
|
TSQA-80XME |
80 |
0.5 W |
600 – 6000 |
精密中功率 HTOL 射頻系統 |
|
TSQA-16XMF |
16 |
高動態範圍 |
300 – 8500 |
精密 HTOL 射頻系統 |