RTB6000i 紅外線輻射度測試台

專為紅外線探測與光電系統工程師打造的全方位測試解決方案

 

SBIR RTB6000i 探測器測試台，是一款具備高度彈性的整合型紅外線探測器測試站，專為評估單元件探測器 (single element detectors)、線性陣列 (linear arrays)、焦平面陣列 (focal plane arrays, FPA) 以及紅外線攝影機系統所設計，RTB6000i 提供精確的輻射刺激源，無論在實驗室或生產環境中，皆能執行高準確度的紅外線探測器測試。

備註：原 RTB 3000i 之型號變更，現行機種之型號為 RTB6000i，架構與規格不變

SBIR 系統的設計重點在與多數資料擷取系統整合，以執行完整的探測器特性分析所需的自動化測試與數據處理，另一方面，RTB6000i 亦能整合使用者自備的探測器周邊電子設備，進而完成探測器的各項測試與分析。

RTB6000i 的黑體輻射源 (blackbody sources) 與光學元件經過精心設計，能快速且精準地重新配置為泛光模式 (flood-mode)、聚焦模式 (focused-mode) 與準直模式 (collimated-mode) 進行測試，如調變轉換函數 (MTF)、串擾 (crosstalk)、光斑掃描 (spot scan) 以及偵測率 (D*) 等測試，皆能以極佳的準確度與重複性輕鬆完成。

RTB6000i 支援快速設定並可簡易記錄測試配置，進而產出準確、一致的測試結果，這種整合式設計消除了許多在設定與對齊多種測試配置時常發生的誤差。

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產品特色

精準測試

SBIR 採用系統層級的設計方法，並將多年來在紅外線探測器測試領域的專業知識應用於 RTB6000i 的開發中，以最先進的輻射度與光機組件，提供了無與倫比的準確度與測試重複性。

易於重新配置

RTB6000i 僅需極少數的組件即可實現高度的通用性，如需重新配置系統，使用者只需將輻射源與光學模組放置於預先對齊的快拆式運動學安裝座 (kinematic mounts) 上，即可大幅縮短測試間的停機時間，如需了解特定配置的詳細資訊，請參閱下方關於聚焦模式、泛光模式與準直模式的測試設定。

電腦連線介面

RTB6000i 配備所有必要的介面，可與搭載 IRWindows™ 測試軟體的主機電腦進行通訊，透過隨附的電腦連線介面，可以實現所有黑體溫度、靶標與濾光片選擇、光斑移動與對焦、截光器 (modulator) 狀態以及其他參數的自動化控制。

RTB6000i 系統相容性

RTB6000i 專為輕鬆整合至多數資料擷取系統 (例如 Pulse Instruments) 而設計，這些系統提供待測物 (UUT) 的電氣介面與資料輸出，而 RTB6000i 則提供所有必要的輻射度輸入；SBIR IRWindows 利用來自 Pulse Instruments 的資料來支援標準影像系統測試；專為 RTB6000i 提供且強大、易於使用的選配軟體套件採用選單驅動設計，具備極高的靈活性，硬體與軟體皆採模組化設計，可輕鬆針對特定的待測物或非標準測試進行客製化。

IRWindows™5 是一款先進的 IR/EO 感測器自動化測試軟體，支援紅外線、可見光與雷射系統效能測試，具備直覺式 GUI、gRPC 遠端介面、強化 SQLite 資料庫與即時分析工具 (連續 MTF/Boresight)。提供完整硬體/軟體統包解決方案，提升測試精度與效率。

標準測試台配置支援各種側視型 (垂直排列) 探測器，使用者若需測試下視型探測器，可在測試物鏡的後工作距離 (back working distance) 內加入適當的光學元件或附帶夾具的反射鏡 (非 SBIR 配備)，若有不同於標準測試台光學配置的特定測試需求，請聯絡奧創系統科技工程或業務部門。

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系統規格

標準系統

RTB6000i 紅外線探測器測試台的基礎系統能夠執行所有常見的聚焦、泛光與準直模式測試，滿足紅外線探測器、線性陣列、焦平面陣列及攝影機系統特性分析的需求。

DB 系列差分黑體 (Differential Blackbody)

SBIR Infinity 差分黑體，具備 iProbe 獨立校準與 VANTABLACK 超高發射率選項，專為研發人員提供 mK 級穩定度與高均勻性，適用於精密的 NUC、MRT、MTF 紅外線感測器特性量測。

• ΔT 範圍：-25ºC 至 75ºC；絕對溫度範圍：0ºC 至 100ºC
• 設定點解析度：0.001°C
• 大約轉換速率 (Slew rate)：在 25ºC 時約為 +0.40ºC/秒
• 穩定時間：<45 秒
• 穩定度：σT≤0.001ºC (0ºC 至 50ºC)，σT≤0.002ºC (-40ºC 至 0ºC 以及 50ºC 至 100ºC)

4100 系列高溫腔體黑體 (High Temperature Cavity Blackbody)

SBIR 4100 高溫腔體黑體，操作達 1000°C，具 0.98 發射率、優異均勻性與穩定性；快速升降溫縮短測試時間，高精度 PID 控制，支援 GPIB/RS-232。適用嚴苛紅外校準測試。

• 絕對溫度：50°C 至 1000°C
• 顯示與設定點解析度：0.1°C
• 溫度準確度：±0.40°C
• 穩定度：短期 ±0.30°C，長期 ±0.50°C
• 發射率：從 2μm 至 14μm 區間 >0.98
• 升溫時間 (100°C 至 1000°C)：<60 分鐘
• 降溫時間 (1000°C 至 100°C)：<85 分鐘

光學截光器 (Chopper)

• 標準範圍：1 至 1,000 Hz
• 穩定度：0.1 Hz
• 設定點與顯示解析度：1 Hz

快門 (Shutter)

• 狀態：停止-開啟 (Stop-open) 及 停止-關閉 (Stop-closed)

濾光片轉輪 (Filter Wheel)

• 8 個位置 (系統不含濾光片)

孔徑轉輪 (Aperture Wheel)

• 12 個位置 (系統不含孔徑片)

Model 312i 靶標轉輪 (Target Wheel)

SBIR 300 系列電動目標輪提供優於 0.001" 的定位重複性、高熱穩定性與零背隙設計；專為搭配黑體與積分球光源，支援 MRT、MDT、MTF、NEDT 自動化測試。是國防、工業與研究應用的理想選擇，並可選配對準照明器。

• 12 個位置 (系統不含靶標)
• 位置間重複精度：<0.001 吋
• 孔徑直徑：2 吋

光學元件 (Optics)

• 中波紅外線 (MWIR, 3-5 μm) 物鏡：
  • 標稱有效焦距：100 mm
  • 光圈值：f/1.2
  • 最大視場尺寸：10 mm 直徑
  • 視場畸變：< 0.5%
  • 全視場多色模糊斑寬度 (Polychromatic Blur Spot width)：典型值 12.5 μm
  • 空氣中後工作距離 (BWD)：66.28 mm
• 長波紅外線 (LWIR, 8-12 μm) 物鏡：
  • 標稱有效焦距：100 mm
  • 光圈值：f/0.8
  • 最大視場尺寸：8 mm 直徑
  • 視場畸變：< 0.5%
  • 全視場多色模糊斑寬度：典型值 22 μm
  • 空氣中後工作距離 (BWD)：54.27 mm

準直儀 (Collimator)

SBIR STC 系列離軸牛頓式準直器，為可見光至長波紅外線系統測試提供繞射極限效能。輕巧、易整合、可客製化，打造精準目標投影。

• 淨孔徑：6 吋
• 有效焦距：30 吋
• 系統波前準確度 (峰對谷)：在 632.8 nm (軸上) 時為 0.35 波長
• 反射率：
  • 0.4-1.0 μm = 平均反射率 > 85% 且 最小反射率 > 79%
  • 1.0-2.0 μm = 平均反射率 > 93% 且 最小反射率 > 89%
  • 2.0-14.0 μm = 平均反射率 > 97% 且 最小反射率 > 95%

鏡頭安裝座與平移台 (Lens Mount and Translation Stage)

• 作動方向：X、Y 及 Z 軸
• 行程範圍：± 25mm
• 最小增量位移：0.1μm
• 雙向重複精度：典型值 0.6μm，保證值 2μm
• 軸上準確度：典型值 5μm，保證值 15μm
• 速度範圍：5 mm/sec

運動學安裝系統 (Kinematic Mounting System)

• 組件快速安裝/拆卸
• 組件精準重新定位
• 固定式防脫落手轉螺絲鎖定

聚焦模式測試 (Focused Mode Tests)

在聚焦模式測試中，RTB6000i 會將來自紅外線照明孔徑、或靶標的能量聚焦到探測器的單一像素上，典型的聚焦模式測試包括串擾 (Crosstalk)、光斑掃描 (Spot scan) 和調變轉換函數 (MTF)，RTB6000i 的光學系統允許使用高溫腔體黑體或低溫大面積輻射源來執行聚焦模式測試。

串擾 (Crosstalk)

串擾是衡量當一個像素被照亮時，來自鄰近像素訊號的指標，由於現代焦平面陣列 (FPA) 的像素尺寸已逼近繞射極限，因此對定位系統有極嚴格的要求，RTB6000i 提供軟體控制的 X-Y-Z 光斑移動功能，讓使用者能輕鬆找到最佳的光斑位置。

光斑掃描 (Spot Scan)

在光斑掃描測試中，能量會被聚焦在焦平面陣列上並進行掃描，透過分析探測器輸出與光斑位置的關係，可以直觀地檢查基板邊緣或冷屏 (cold shields) 的串擾與反射情況，光斑掃描也可應用於大型探測器像素，以識別空間不均勻性，RTB6000i 能快速且輕鬆地進行具備可重複性的光斑掃描量測。

調變轉換函數 (Modulation Transfer Function, MTF)

使用 RTB6000i 可以輕鬆測量調變轉換函數 (MTF)，為了測量探測器的 MTF，系統會將狹縫影像掃描過探測器，同時主機電腦會記錄來自一個或多個像素的輸出訊號。

聚焦模式配置圖一：此配置架構圖顯示採用高溫黑體輻射源 (High Temperature Blackbody)，並搭配截光器 (Modulator)、濾光片轉輪、快門與孔徑轉輪的聚焦模式測試設定。


聚焦模式配置圖二：此配置架構圖顯示採用大面積黑體輻射源 (Extended Area Blackbody)，並搭配 12 孔位電動靶標轉輪 (Motorized Target Wheel) 的聚焦模式測試設定。

泛光模式測試 (Flood Mode Tests)

在泛光模式測試中，RTB6000i 使用來自大面積輻射源、或高溫腔體源的未聚焦黑體能量來照亮探測器，泛光模式測試包括響應度 (Responsivity)、雜訊 (Noise)、均勻度 (Uniformity)、偵測率 (Detectivity) 和線性度 (Linearity)，使用 RTB6000i 的刻度光學滑軌和快拆式運動學安裝座可精確建立輻射源位置，藉此精準控制輻照度 (irradiance)。

響應度 (Responsivity)

響應度是指每單位輻射度輸入所產生的電氣輸出變化，為了測量響應度，會將大面積黑體放置在探測器陣列正前方，或者將配有特定孔徑尺寸的高溫腔體黑體放置在距探測器所需距離處，響應度是一個關鍵的測量值，因為它被用來計算偵測率 (D*)、雜訊等效溫差 (NETD)、雜訊等效輻照度 (NEI) 和量子效率 (Quantum efficiency)，RTB6000i 的彈性設計讓測試工程師可以選擇最符合其測試理念的響應度測試配置。

雜訊 (Noise)

雜訊測量測試是另一種泛光模式測試，設定在環境溫度、或接近環境溫度的大面積黑體輻射源會對探測器進行泛光照射，在輸入固定的情況下，雜訊即是電氣輸出隨時間變化的均方根偏差 (RMS)，雜訊是另一個用於計算 D*、NETD 和 NEI 的關鍵測量值，RTB6000i 整合了最先進的 SBIR 黑體輻射源，能夠執行穩定且準確的雜訊測量。

泛光模式配置圖一：此架構圖展示泛光模式的測試設定，高溫黑體輻射源 (同樣配有截光器、濾光片轉輪、快門與孔徑轉輪) 安裝於刻度光學滑軌 (Graduated Optical Rail) 上，直接對準杜瓦瓶內的探測器進行大面積的均勻泛光照射。

均勻度 (Uniformity)

均勻度是衡量焦平面陣列在受到恆定、均勻輻照度泛光照射時，像素與像素間輸出變異的指標。將大面積黑體定位於填滿探測器視場 (FOV) 的位置，為陣列提供均勻的紅外線刺激。系統會收集陣列中每個元件的資料，並計算標準差或其他統計數據。

偵測率 (Detectivity, D*)

偵測率 (D*) 是一個實用的計算優值 (figure of merit)，用於比較不同探測器的效能，D* 的定義是：響應度乘以探測器面積的平方根，再除以雜訊頻譜密度，D* 計算是 RTB 選配軟體套件的標準功能，D* 數據通常會參考特定的黑體溫度來報告，RTB6000i 的黑體輻射源可提供 D* 測量通常所需的所有標準溫度。

泛光模式配置圖二：此架構圖展示另一種泛光模式測試設定，改為將大面積黑體輻射源 (Extended Area Blackbody) 安裝於刻度光學滑軌上，直接對準杜瓦瓶內的探測器進行均勻泛光照射。

線性度 (Linearity)

線性度是衡量 V(Q)（即探測器輸出電壓作為輻射度輸入的函數）符合直線關係的程度，傳統的線性度測量方法是在探測器的動態範圍內測量此函數，利用大面積源或腔體黑體的能量對探測器進行泛光照射，入射到探測器上的能量可透過改變大面積輻射源的溫度，或改變腔體黑體的孔徑直徑來調節。RTB6000i 支援這種傳統的線性度測試方法。

為了發揮實用性，V(Q) 測量必須具備夠高的解析度與準確度，才能揭露微小的非線性情況，這對輻射源的準確度、實體設定幾何形狀及訊號處理電路都提出了嚴苛的要求。

泛光模式配置圖三：此架構圖展示第三種泛光模式測試設定，採用雙輻射源配置，大面積黑體輻射源與高溫黑體輻射源（含截光器、濾光片轉輪、快門與孔徑轉輪）分別安裝於各自的刻度光學滑軌 (Graduated Optical Rails) 上，並透過微型反射鏡模組 (Sliver Mirror Assembly) 將兩者的輻射能量同時引導至杜瓦瓶 (Dewar) 內的探測器，此配置通常用於高精度的線性度 (Linearity) 測試。

RTB6000i 提供了一種測試線性度的新方法，可避免傳統方法的限制，新方法不是測量探測器在其整個範圍內輸出電壓的絕對值，而是在選定點測量 V(Q) 曲線的斜率，為此，會同時以大面積輻射源和經過調變的高溫輻射源照亮探測器，改變大面積源的溫度可設定標稱輻照度，經過調變的高溫源會圍繞這個標稱值提供精確且可重複的變化，探測器輸出的交流 (a.c.) 分量將與探測器的響應度成正比，V(Q) 的斜率與由此產生的探測器輸出交流分量成正比。透過此方法，可以極高的準確度判定與線性度的偏差。

準直模式測試 (Collimated Mode Tests)

前面描述的測試適用於不形成影像的探測器或系統，RTB6000i 還包含一個全反射式、6 吋淨孔徑、30 吋焦距的準直儀，支援影像系統的特性分析與測試，這項功能可以在系統層級執行日常的 MTF、SiTF、NETD、MRTD 和許多其他標準測試（見下文），並省去了使用獨立紅外線靶標投影系統的麻煩。

準直模式配置圖一：此架構圖展示採用高溫腔體黑體輻射源 (High Temperature Cavity Blackbody) 的準直模式測試設定，輻射源包含截光器、濾光片轉輪、快門與孔徑轉輪，光束經由摺疊反射鏡 (Fold Mirror) 引導至準直儀反射鏡 (Collimator Mirror) 後，以平行光形式投射至影像系統 (Imaging System) 進行測試。


準直模式配置圖二：此架構圖展示採用大面積黑體輻射源 (Extended Area Blackbody) 的準直模式測試設定。輻射源上方搭配了 12 孔位、2 吋孔徑的靶標轉輪 (Target Wheel)。光束經由摺疊反射鏡 (Fold Mirror) 引導至準直儀反射鏡 (Collimator Mirror) 後，以平行光形式投射至影像系統 (Imaging System) 進行測試。

使用 IRWindows™ 進行自動化測試

SBIR IRWindows™ 是一款先進的軟體工具，可自動執行紅外線、可見光與雷射感測器系統的業界標準效能測試之設定、執行、資料收集及結果分析，IRWindows™ 是現今業界中最先進的商用 IR/EO 感測器測試軟體套件，它在 Windows™ 作業系統下運作，並安裝於配備影像擷取卡 (支援待測物影像格式) 的高階 PC 電腦平台上出貨，它也可作為純軟體套件提供。IRWindows™ 結合 SBIR 靶標投影機，為測試工程師與技術人員提供了一套一站式、自動化的硬體/軟體感測器測試解決方案。

IRWindows™ 支援以下測試（可能需要額外的靶標）：

• 3D 雜訊 (3D Noise)
• 自動最小可分辨溫差 (Auto MRTD)
• 視軸校準 (Boresight)
• 通道完整性 (Channel Integrity)
• 連續視軸校準 (Continuous Boresight)
• 連續 MTF (Continuous MTF)
• 串擾 (Cross Talk)
• 畸變 (Distortion)
• 視場 (FOV)
• 增益、偏移、壞點 (Gain, Offset, Bad Pixels)
• 內插 MTF (Interpolated MTF)
• 抖動 (Jitter)
• 最小可偵測溫差 (MDTD)
• 手動 MRTD (Manual MRTD)
• MTF
• NER, NEI, NEFD, NEP, D*（系統級泛光模式）
• NETD 與背景對比 (NETD vs. Background)
• SiTF
• 方波響應 (Square Wave response)
• 空間雜訊/NETD (Spatial Noise)
• 時間雜訊/NETD (Temporal Noise)
• 均勻度 (Uniformity)

註：雖然軟體具備執行上述所有測試的能力，但可能需要選購額外的硬體。

軟體特點

• 以待測物 (UUT) 為中心的測試開發：
  可利用內建的待測物規格與測試策略來簡化測試套件開發，輕鬆應對複雜的待測物 (UUT) 或嚴苛的測試條件。
• 可編輯的測試：
  提供程式碼層級的存取權限，以建立新測試並修改現有的測試演算法，滿足獨特的測試需求。
• 三種操作模式：
  • 「操作員模式」(Operator Mode)：
    讓測試技術人員安全地執行由測試工程師預先定義的測試巨集。
  • 「開發者模式」(Developer Mode)：
    測試工程師可透過互動方式配置與執行測試、巨集與策略。
  • 「程式設計師模式」(Programmer Mode)：
    具備 C+ 語言技能的系統開發人員可以進入程式碼，複製預定義的測試並編輯實際程式碼，建立專屬的客製化版本。
• 易於使用：
  透過直覺的圖形化使用者介面，測試工程師可快速配置並執行 IRWindows™ 中包含的任何測試，資料收集與分析皆為自動化，測試結果可列印、儲存或匯出以供進一步分析。
• 完整的測試解決方案：
  提供安裝於高階 PC（具備遠端介面與影像擷取卡）上的完整系統。
• 準確的測試結果：
  自動化測試減少了測試時間與成本，同時提高了測試結果的一致性與準確度，採用業界標準的測試方法與分析技術，提供最準確且完整的測試系統。

 

測試項目說明 (Test Descriptions)

以下是 IRWindows™ 中包含的各項測試簡介，如需更多資訊，請聯絡奧創系統團隊。

訊號轉換函數 (Signal Transfer Function, SiTF)

SiTF 測量系統敏感度，因為它將感測器輸出響應與輸入源或輻射通量連結起來，對於熱影像系統，會使用熱源 (即大面積黑體) 搭配半圓形靶標，為測試的熱影像儀提供微差靶標；IRWindows™ 允許操作員指定測試條件與資料收集參數，據此取得 SiTF 響應分佈 (通常定義為「S 曲線」)，使用者可以指定廣泛的測試參數，分析選項包含計算 SiTF 響應函數 (包含動態範圍計算)、光響應不均勻性直方圖等。

時間雜訊 (Temporal Noise, NETD)

測量雜訊是量化熱影像感測器的基本且關鍵指標，時間雜訊可能是由於物體場景雜訊、感測器焦平面陣列 (FPA) 讀出雜訊等原因造成，IRWindows™ 具備收集由連續 2D 影像組成之資料立方體 (data cube) 的能力，可後續處理以判定時間雜訊，並使用 SiTF 模組推導出時間雜訊等效溫差 (Temporal NETD)。

空間雜訊 (Spatial Noise, NETD)

空間雜訊指的是在所有 2D 凝視型熱影像系統中存在的像素間變異 (偏移與增益)，IRWindows™ 能夠擷取 2D 影像並評估單一影格資料的雜訊品質 (平均值、標準差和不均勻性)，此外可以沿著行或列測量雜訊功率頻譜密度 (NPSD)，了解雜訊程度與空間頻率內容的關係。

3D 雜訊測量 (3-D Noise Measurements)

在 1990 年代初期，美國陸軍夜視實驗室 (CECOM) 開發了一項具描述性且全面的指標，用於量化熱影像感測器（包含掃描型與凝視型）中可能存在的時間與空間雜訊分量。總共有 (7) 個明確定義的雜訊分量。IRWindows™ 具備收集由使用者指定的連續 2D 影像資料立方體 (Data cube) 的功能，這些資料可於後續處理以取得這些 3D 雜訊分量。

這些雜訊值可直接應用於如 FLIR92 與 NVTHERM 等預測程式 (Predictive codes) 中，以進一步且更精準地預測紅外線感測器的效能，使用者可以指定廣泛的測試參數，包含場景背景溫度、資料量測的感興趣區域 (ROI)、類比/數位 (A/D) 轉換係數，以及欲收集的影格數量。

IRWindows™ 提供豐富的圖形與資訊輸出介面，用以描述測試量測條件、以多種單位（ADU、mV 及 °C）顯示 3D 雜訊值，並具備資料表列與通過/失敗 (Pass/Fail) 基準評估等功能，使用者可從任何圖形或表格畫面列印報告，亦可設定在測試結束時自動列印這些報告。

MTF (邊緣響應法 / Edge Response Method)

熱影像儀的調變轉換函數 (MTF) 提供了一項重要指標，用於衡量系統在感測器輸出端重現目標場景對比度的能力，在系統層級進行測量時，MTF 是一個複合函數，涵蓋了熱影像儀的光學元件（鏡頭像差、容差與對焦設定）、焦平面陣列 (FPA) 取樣與像素響應，以及電子預處理和後處理（類比與數位）等多項因素。

IRWindows™ 內建了一個基於邊緣響應法來測量熱影像儀 MTF 的模組，系統會擷取邊緣靶標（例如：半圓形靶標）的熱影像，並進行取樣以取得邊緣響應函數 (Edge Response Function, ESF)，接著對此 ESF 進行微分以獲得線擴散函數 (Line Spread Function, LSF)，再經過傅立葉轉換 (Fourier Transform) 得出光學轉換函數 (Optical Transfer Function, OTF)，其取實數部分即為所顯示的標準化 MTF 結果。

IRWindows™ 支援垂直或水平方向的 MTF 測量，並可透過使用者指定的感興趣區域 (ROI) 進行平均（以提高測量準確度），或是沿著單一列 (row) 或行 (column) 進行測量，使用者可以指定測試量測條件與參數，例如靶標溫差、ROI、影格平均 (Frame-averaging) 等，使用者必須輸入水平視場 (HFOV) 與垂直視場 (VFOV)，以建立 MTF 結果的顯示頻率軸，MTF 頻率軸的顯示單位可由使用者自行選擇（cyc/mrad、cyc/mm、奈奎斯特標準化 / nyquist normalized），以符合使用者的資料判讀需求。

系統提供使用者可選的基座 (Pedestal) 與平滑化 (Smoothing) 功能，以優化 MTF 結果的運算，基座功能允許使用者從 LSF 結果中移除少量的直流偏移 (DC offset) 或偏差 (Bias)，而平滑化功能則可減少計算所得 LSF 資料集中的明顯雜訊，就如同所有其他測試一樣，系統為使用者提供了廣泛的分析與顯示選項，並具備列印報告的功能。

連續 MTF (Continuous MTF)

提供即時 (每秒數次更新) 的 MTF 顯示功能給受測熱影像儀，此功能本質上提供了穿透焦距 (Thru-Focus) 的 MTF 能力，以實現熱影像儀的最佳光學對焦及最佳的 MTF 效能。

最小可分辨溫差 (MRTD)

這是熱影像儀最重要的測試指標之一，屬於主觀測試評估，基於人類觀察者在最小溫差下完全分辨特定空間頻率的 4 條線靶標的能力，測試以半自動方式執行，記錄最小可觀察溫度，並繪製成 MRTD 曲線。

自動 MRTD (AutoMRTD)

傳統 MRTD 測試非常耗時且主觀，AutoMRTD 模組利用 NETD 和 MTF 測量資料集，搭配從手動 MRTD 測量資料庫預先推導出的「K」係數，來客觀計算出熱影像儀的 MRTD，而無須人員介入進行主觀判斷。

最小可偵測溫差 (MDTD)

MDTD 測試指標與熱影像儀偵測特定角度張角 (或等效的特定尺寸/距離) 的熱點目標的能力有關，使用者需準備包含涵蓋熱影像儀瞬時視場 (IFOV) 大小的多針孔靶標以進行測試評估。

能量集中度 (Ensquared Energy)

這是一個簡單且實用的測試指標，用於評估由於點源目標成像至 FPA 感測器上的單像素光學收集效率，系統會取樣一個小型的 2D 像素陣列，並計算中心像素值與此 2D 子陣列中所有像素總和的比例。

狹縫響應函數 (SRF)

測量熱影像儀對可變狹縫輻射源的輸出響應，使用者建立一組橫跨熱影像儀 IFOV (通常為 1/10x 到 3x IFOV) 的狹縫開口，據此繪製 SRF (輸出響應對比角度張角)，並從中擷取成像解析度與量測解析度等指標。

兩點 (2pt.) 影像校正 (增益、偏移、壞點)

真實系統需要進行兩點增益與偏移校正程序，以平衡 2D 感測器中每個像素的響應，此測試模組旨在建立影像校正矩陣，評估殘留的增益與偏移不均勻性，並根據使用者定義的標準判定「壞點」(Bad Pixels)。

輻射靈敏度 (Radiometric Sensitivity: NESR, NEFD, NET)

軍用及輻射感測器常以輻射度單位 (如 W/sr/cm²/μm) 描述效能，IRWindows™ 整合了輻射靈敏度測試模組，可計算三項指標：

a. 雜訊等效光譜輻射亮度 (Noise Equivalent Spectral Radiance, NESR)
b. 雜訊等效通量密度 (Noise Equivalent Flux Density, NEFD)
c. 雜訊等效目標 (Noise Equivalent Target, NET)

視軸校準 (Boresight)

熱影像儀的對齊狀態會影響其整體運作，IRWindows™ 使用針孔靶標生成參考點以進行視軸校準測量，並會自動配置靶標輪與黑體進行影像中心點判讀。

連續視軸校準 (Continuous Boresight)

即時提供視軸對齊狀態回饋，以確保測試結果的可重複性，位置數據每秒更新數次，允許操作員在繼續進行後續測試之前快速調整受測系統。

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