緊湊型光電測台 - VEO-2

Common E-O 緊湊型電光雷射測試模組

Common E-O 緊湊型電光雷射測試模組

搭載 IRWindows™4 自動化平台,支援雷射與電光感測器精準測試、小型化攜行設計,為第一線維護與系統健檢提供完整解決方案。
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詳細介紹

Common E-O 電光雷射測試模組

整合感測測試,一機完成全流程

 

共通電光雷射測試組是一套易於操作、雷射安全且模組化的測試系統,設計用途為針對可攜式電光雷射裝置進行第一線維護作業;此機種具備使用者友善的操作介面,適合快速評估系統健康狀態、維護情形與運作狀況;此產品整合 SBIR 的 IRWindows™4 測試自動化軟體,提供精準且一致的測試結果;系統亦可輕鬆設定,以執行完整的雷射系統測試作業。

特點

完整雷射與電光系統測試能力

準直儀模組

  • 採用寬頻反射型投影光學元件,具備 5° 視場角;
  • 配備環境防護型寬頻穿透光學視窗
  • 附有可延展光封套管,適用於低光源測試條件。
 

多波長光源(MLS)

  • 黑體光源提供高度放射紅外輻射;
  • 寬亮度範圍之鎢鹵素均勻光源,支援可見光與 (第二代像增強器) 相關測試。

 

內建 CCD 攝影機

  • 支援雷射存在判定與光軸校準(boresight)測試
 

NUC 泛光源與目標輪系統

  • 非均勻校正泛光源(NUC Flood Source)為高放射率延展型紅外光源
  • 多位置目標輪(22 個位置)提供靈活靶標組合配置。
 

擴展測試組件與外部模組支援

外部導軌系統

  • AZ/EL 調整平台(方位角/仰角控制)
  • 支援待測物(UUT)快速替換MIL-STD-1931 軍規介面相容性

 

外部觀測與量測組件

  • 數位攝影機:適用於目鏡測試、I² 增益與高亮度測試;
  • 屈光度觀測鏡:用於進行光學目鏡觀測;
  • 外部衰減濾波器組:強化雷射 UUT 的量測範圍控制;
  • 外接功率計(選配):提供精確雷射功率量測能力。

 

支援模組與操作端平台

電子支援模組(Support Electronics Module)

  • 可編程電源供應器電池狀態監控
  • 整合準直儀模組驅動、控制與通訊電路板
  • 搭載乙太網路集線器與 IEEE-1394a 介面,提供多樣連接性;
  • 內建電源分配模組,簡化系統部署。

 

強固型筆記型電腦(Ruggedized Laptop)

  • 支援命令與控制、影像與資料處理、封存與顯示功能;
  • 相容 NTSC、PAL、RS-170 等主流影像格式。

設計優勢與可攜性

  • 小型化、可攜設計:單箱重量小於 85 磅,配備雙人可攜式運輸箱
  • 強固機構設計:可用於嚴苛現場環境進行第一線維護

 

測試效能與軟體整合

Milli-Kelvin 等級溫控穩定性

  • 專利溫度感測與控制電路設計,實現1 mK 對比度測試等級的高精度熱穩定
 

IRWindows™ 軟體支援

  • 支援 TPS(Test Program Set)開發
  • 搭載全自動設定、執行、資料收集與分析模組
  • 最佳化整合於紅外線、可見光與雷射感測系統之性能測試工作流程
 

選配項目

外接功率計

  • 用於雷射待測物(UUT)功率量測;

 

IRWindows™ 進階 EO 測試與分析工具

  • 共通 E-O 測試組亦支援與 SBIR IRWindows™ 測試平台之無縫整合;
  • 該系統提供完整自動化設定、執行與資料分析能力,專為紅外線、可見光與雷射感測器系統之標準效能量測所打造。
 

外觀尺寸

機構尺寸(英吋):俯視圖


 

機構尺寸(英吋):側視圖


 

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