搜尋 : Holzworth

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    精準隔離與分析:衛星通訊測試中的 LO 替代技術與相位雜訊深度解析

    透過高純淨度訊號源執行本地振盪器 (LO) 替代測試,精準隔離並評估升降頻鏈路效能,深入解析相位雜訊對系統的影響,確保衛星通訊的穩定與可靠。
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    相位雜訊對系統效能的影響:時域與頻域分析及量測方法

    本文深入探討相位雜訊 (Phase Noise) 的原理,從時域 (抖動) 與頻域 (旁波帶) 角度,解析其如何降低系統效能,內容涵蓋相位雜訊對雷達偵測與高階數位調變的具體衝擊,並比較兩種主流的量測技術。
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    LO 替代測試:運用高純度訊號產生器精準診斷衛星通訊鏈路效能

    深入了解本地振盪器 (LO) 替代技術在衛星通訊測試中的關鍵應用,本文闡述 LO 的相位雜訊如何影響系統 EVM 與位元錯誤率,並說明如何使用 Boonton SGX1000 等高純度訊號產生器作為 LO 替代源,來獨立評估與診斷地面站、使用者終端和衛星酬載上下變頻鏈路的效能問題,確保通訊品質與可靠性。
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    如何為絕對相位雜訊量測,正確設定相位雜訊分析儀?

    學習如何設定 HA7062D 相位雜訊分析儀以進行精準的絕對相位雜訊量測,本指南涵蓋內/外部 LO 選擇、前面板跳線的正確鎖固、通訊埠連接,並解釋如何運用交互相關技術,有效去除系統雜訊,取得最真實的待測物性能數據。
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    附加相位雜訊量測的測試設定與技術解析

    本文深入解析附加相位雜訊量測的原理與硬體配置,詳細說明如何運用 HA7062D 相位雜訊分析儀、HX2600 放大器與 HX5100 系列移相器,建構高精確度的測試環境,以有效分離並量化待測物的雜訊貢獻。
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    雷達脈衝形狀關鍵:解析失真與精準量測提升系統效能

    深度探討雷達脈衝過衝、振鈴、下陷對系統偵測與追蹤的影響,本文提供詳細測試配置、RTP5000感測器技術優勢,助您精準量測脈衝,確保雷達最佳性能。
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    4G/5G 衛星通訊模擬之訊號監控、相位雜訊與功率分析解決方案

    針對 4G/5G 衛星通訊系統,提供完整的訊號監控與分析測試方案,包含 Holzworth 相位雜訊分析儀進行訊號保真度測試,Boonton 功率感測器量測 RF 功率與 OFDM 效能,以及 CommAgility 管理工具評估使用者體驗,協助工程師優化 LEO/MEO 衛星系統設計。
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    精準再現衛星鏈路挑戰:實現強固型 4G/5G 衛星通訊的先進模擬方案

    整合 CommAgility PHY 層操控與 Holzworth/Boonton 低相位雜訊訊號源技術,克服延遲、都卜勒效應與干擾,加速衛星網路部署
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    突破衛星通訊瓶頸:4G/5G 網路端到端模擬測試解決方案

    全方位 4G/5G 衛星通訊測試解決方案,整合訊號產生、傳輸、損耗模擬與監測分析,克服都卜勒頻移、多重跳接與訊號干擾挑戰,支援 GEO/MEO/LEO 系統,提供精準射頻功率量測與低相位雜訊分析。
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    精準洞悉 5G TDD 脈衝特性:先進衛星網路時序驗證解決方案

    深入剖析如何運用 Boonton RTP5000 系列感測器精準洞悉 5G TDD 脈衝特性,實現先進衛星網路時序驗證,方案涵蓋訊號產生、關鍵參數(上升/下降/穩定時間)量測與波形異常捕捉,克服毫米波挑戰。
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    衛星放大器雜訊耐受度測試與相位雜訊分析

    透過射頻訊號產生器、可程式化雜訊產生器與相位雜訊分析儀,展示如何精準量測衛星通訊放大器在不同 AWGN 環境下的雜訊耐受度。此解決方案協助工程師評估 HPA/LNA 效能,確保通訊鏈路訊號完整性與低抖動特性。
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    全方位放大器雜訊容限與 5G TDD 網路時序精密驗證

    深入驗證放大器於 AWGN 與相位雜訊下的極限容限,並運用 RTP5000 精密量測 5G TDD 網路時序。此方案協助衛星設計者預測 LEO 衛星系統在真實 RF 干擾下的效能,優化鏈路預算,確保網路穩定與高效頻譜利用。
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    50GHz 高頻段即時自動化殘餘相位雜訊精密量測技術

    深入解析如何透過自動化技術實現高達 50GHz 的絕對與殘餘相位雜訊精密量測,克服傳統外差設置挑戰,提供 RF 訊號穩定性分析所需之高精度、可追溯資料。
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    終結雜訊猜測:相位雜訊絕對與加成性量測實戰解析

    探討相位雜訊對雷達及通訊系統效能的具體影響,說明如何運用絕對與加成性量測技術,精準診斷並量化系統與元件的雜訊貢獻來源,有效提升設計除錯效率與整體系統表現。
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    精準同步射頻合成技術:支援高要求應用的關鍵突破

    深入探討精準同步射頻合成技術,解析多通道 RF 相位同步與相干控制如何確保高穩定性與精準度,並在通訊、雷達、精密量測等高要求應用中發揮關鍵作用。
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    快速評估高性能振盪器:OCXO、CRO、DRO、TCXO、SAW 測試方法解析

    深入解析 OCXO、CRO、DRO、TCXO、SAW 振盪器的測試方法,探討相位雜訊、頻率穩定性、注入鎖定影響及交叉相關技術的應用,並提供最佳測試精度與效率優化策略,確保高效且準確的量測結果。
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    從 X Band 雷達到 5G - 即時自動化殘餘相位雜訊量測技術

    即時自動化殘餘相位雜訊量測技術支援 50GHz 頻段,適用於 X Band 雷達、5G、毫米波與軍用通訊,透過交叉關聯技術提升測試精度,降低量測底限,並提供 NIST 可追溯資料,符合 ISO 17025:2017 及 ANSI Z540.1 認證。
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    量子運算的關鍵挑戰:如何實現高精度相位穩定性?

    量子運算依賴高精度微波控制訊號,其相位穩定性直接影響運算精度與可靠性,本文解析量子運算測試的關鍵技術,包括如何降低相位漂移 (Phase Drift)、提升相位同步 (Phase Coherency),並探討未來測試設備的發展方向。
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  • 20240610 最新消息_310x310_.jpg

    奧創系統科技與 Maury Microwave 正式合作,擴展在台頂尖量測版圖

    奧創系統科技深化與 Maury Microwave 合作,引進 Boonton、Holzworth、Noisecom、dBm 品牌。我們提供從精密校準、負載拉移 (Load Pull) 到衛星通訊測試的完整解決方案,為您的研發與產線打造最具競爭力的測試系統。
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