如何為絕對相位雜訊量測,正確設定相位雜訊分析儀?
這篇文章將帶您一步步了解,如何正確設定 Holzworth 低相位雜訊儀器產品線中的 Maury Microwave HA7062D 即時相位雜訊分析儀,以完成一項精準的絕對相位雜訊量測,我們將聚焦於儀器前面板與後面板的關鍵配置,確保您的量測設定從一開始就準確無誤。
選擇合適的量測類型
HA7062D 的設計相當靈活,可以根據不同的待測物與量測目標,設定為多種量測模式。
- 絕對相位雜訊 (Absolute Phase Noise) 量測:
專門用來評估單埠裝置的雜訊特性,例如訊號產生器、振盪器 (Oscillators) 等訊號源。 - 加成性相位雜訊 (Additive Phase Noise) 量測:
則是用於分析訊號通過一個多埠裝置後,額外疊加上去的雜訊,適用於放大器、混波器等元件的特性分析。 - 基頻 (Baseband) 量測:
提供一種更直接的分析路徑,若您的待測物 (DUT) 訊號已經在外部被降頻轉換至基頻,此模式能讓訊號直接進入分析儀內部的快速傅立葉轉換 (FFT) 引擎進行處理。
在此範例中,我們的目標是量測 Boonton SGX1000 系列射頻訊號產生器的絕對相位雜訊。
在進行絕對相位雜訊量測時,您主要有兩種本地振盪器 (LO) 的選擇,這會直接影響到量測的便利性與最終的雜訊底層極限。
- 內部 LO 模式:
此模式直接利用分析儀內建的一對 Maury Microwave 合成器,其 LO 頻率覆蓋範圍為 10 MHz 至 6 GHz,能提供極高的設定彈性與便利性,特別適合需要快速切換測試頻率的生產線或研發環境。 - 外部 LO 模式:
當待測物 (DUT) 的相位雜訊性能極佳,甚至優於分析儀內建的訊號源時,就必須採用此模式,才能量測到 DUT 最真實的雜訊表現,此設定需要連接兩個相位雜訊特性更為優異的外部超低相位雜訊源,來取代內部的合成器。
在本範例中,我們將分析儀設定為內部 LO 模式,以量測 SGX1000 系列的性能。

HA7062D 提供極高量測準確性,採用即時雙 FFT 技術,並具備可配置前端以確保最佳量測信心;內建Holzworth HSX 合成器核心,可作為 CW 訊號源,適用於高階相位雜訊量測需求,26 GHz 可選擇擴展至 40 GHz,提升頻率覆蓋範圍。
相位雜訊分析儀 – 前面板與後面板配置
前面板
在確認量測類型(絕對相位雜訊)與模式(內部 LO 模式)後,首要步驟是正確連接前面板的四個硬式同軸跳線,在手動旋緊後,務必使用扭力板手以建議的扭力值將其鎖緊,這個步驟至關重要,因為適當的扭力能確保最佳的電氣接觸,避免訊號洩漏或反射,從而保障射頻訊號的完整性。
將待測物 (DUT) 的訊號連接至前面板輸入埠後,訊號會被平均分配至兩個獨立的內部量測路徑,各自與其專屬的 LO 混波,這些同軸跳線的功能,正是將 DUT 的射頻輸入與各通道的 LO 訊號正確地連接起來,混波後產生的中頻 (IF) 訊號,接著會被數位化並轉換至頻域,以利後續的數據處理。
交互相關 (Cross-correlation) 處理是 HA7062D 的核心技術,簡單來說,兩個量測通道都會看到來自 DUT 的「相同」相位雜訊(相關的),但各自 LO 產生的內部雜訊卻是「不同」的(非相關的),透過演算法平均多次量測結果,這些隨機、非相關的雜訊會被互相抵銷,而來自 DUT 的真實相位雜訊則會被保留下來,進而達到去除系統雜訊底層的目的,這個方法的代價是量測時間,但效果顯著,相關性掃描次數每增加 10 倍,理論上即可降低 5 dB 的隨機系統雜訊。
後面板
儀器後面板整合了所有您需要的數據通訊介面:
- USB
- 乙太網路 (Ethernet)
- RS-232
- GPIB
在此範例中,我們透過 USB 埠將相位雜訊分析儀與一台安裝有控制分析軟體的個人電腦(PC)連接。
絕對相位雜訊量測測試設定
整個測試系統的架構由三個核心部分組成:待測物 (DUT)、控制器 PC 與相位雜訊分析儀,其實際連接方式相當直觀:
- 待測物 (DUT):
將作為穩定連續波 (CW) 訊號源的 SGX1000 系列,使用高品質的同軸電纜連接到分析儀前面板的 DUT 輸入埠。 - 控制器:
使用 USB 傳輸線,將您的 Windows 個人電腦(PC)與分析儀的後方面板連接,這台電腦將用來執行控制軟體與顯示量測圖形。 - 相位雜訊分析儀:
再次確認前面板的四個跳線都已正確連接並以扭力板手鎖緊,其前面板與 DUT 相連,後面板則與控制器 PC 相連。
完成硬體連接後,下一步就是開啟專用軟體來進行實際的量測與分析,想觀看完整的設定流程,包含如何操作軟體介面嗎,下方的教學影片將為您提供詳細的步驟指引。

SGX1003/SGX1006 RF 訊號產生器採用非 PLL 設計,頻率範圍 10 MHz 至 6 GHz,具備超低相位雜訊(-122 dBc/Hz),超低抖動 (< 100 fs),並支援清單模式與掃描模式,適用於高精度 RF 測試與開發。
相位雜訊分析儀如何量測相位雜訊?
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相關產品
- SGX1003/SGX1006 射頻訊號產生器 (3/6 GHz)
- SGX1018 射頻訊號產生器 (18 GHz)
- HA7062D 即時相位雜訊分析儀 (26/40 GHz)
- HA7063A 降頻轉換器 (50GHz)