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    HTOL 射頻壽命測試系統

    支援 SAW、BAW、FBAR 等高頻元件長時 HTOL 測試，Becker 系統具備高隔離多通道架構、獨立 ALC 控制、封閉式功率迴路、無過衝輸出與遠端監控能力，可精準施加射頻應力於 125°C 高溫下運行逾 1000 小時，專為高頻元件壽命統計分析與失效預測而設計。