介電材料量測 - Dk/Df

高頻介電材料特性分析解決方案

高頻介電材料特性分析解決方案

從 RF 到 THz,本方案提供完整的高頻介電材料特性分析,內容涵蓋 VNA 量測、S 參數轉換與治具選擇,助您精準評估 PCB、薄膜與液體等材料。
詳細介紹

高頻介電材料特性分析

精準掌握材料特性:從 RF 到 THz 的全方位介電量測解決方案


「高頻介電材料特性分析」測試解決方案是一套專為精準分析材料電氣特性而設計的完整系統,本方案整合了從 mHz 低頻到 THz 毫米波(mmWave)頻段所需的核心儀器、多樣化的量測方法、關鍵的轉換演算法及專用的量測治具,現今,高效能介電材料的應用對於電子航太國防汽車科技,乃至醫療製藥與尖端科學研究等領域,其重要性日益增加,因此精準的特性分析扮演著關鍵角色 。

此解決方案的核心在於提供一套非破壞性且相對快速的測試流程 ,讓使用者能深入洞察材料本質,例如:觀察材料因老化溫度濕度產生的變化、確保 PCB 材料RF 電路的相容性、在品質控制中確認材料的一致性,或是在汽車應用中檢測保險桿對雷達頻率的穿透性 。

方案的基礎儀器涵蓋了適用於低頻段的阻抗分析儀(如 MFIA),以及在高頻 RF 與微波頻段作為量測核心的向量網路分析儀 (VNA)(如 R&S ZNA);透過與毫米波轉換器的結合,VNA 的量測能力更能延伸至 THz 範圍,滿足前瞻應用的需求;VNA 透過量測待測物 (MUT) 的反射傳輸係數,也就是 S 參數,來取得原始資料,接著,方案內建的轉換方法(如 Nicolson-Ross-Weir 演算法)會將這些 S 參數精確轉換為複數電容率磁導率等關鍵材料常數,為確保量測結果的準確性與可靠性,一個設計優良的量測治具至關重要 ,因此本方案也整合了 KEYCOMQWEDSPEAGSWISSto12 等領導廠商的專用治具,以應對從固體、液體到粉末等不同形態樣品的測試挑戰 。

核心量測儀器

根據不同的頻率範圍與應用需求,選擇對應的核心分析儀器是整個測試方案的基礎。

阻抗分析儀 (mHz 至 MHz):

  • 適用於低頻範圍,例如 Zurich Instruments 的 MFIA 阻抗分析儀
  • 運作原理:儀器輸出一組 AC 電壓訊號,並量測返回的電流訊號及樣品兩端的電壓降,藉此計算出包含相位資訊的複數阻抗 。

向量網路分析儀 (VNA) (MHz 至 THz):

  • 適用於 RF、微波及毫米波頻段,是高頻材料分析的核心,代表型號包括 R&S®ZNAR&S®ZNB 等 。
  • 運作原理:透過量測散射參數 (S 參數),即待測物 (MUT) 對入射波的反射 (S11​) 與傳輸 (S21​) 係數,來分析材料特性 。
  • 高頻擴展:可搭配 R&S®ZCxxx 毫米波轉換器,將量測頻率擴展至 THz 範圍 。

 

不同技術解決方案應用於低、中、高頻材料特性分析

左側:阻抗分析儀透過量測電壓與電流來計算阻抗 Z 。
右側:向量網路分析儀透過量測 S 參數來進行分析,並可搭配升頻器擴展至 THz 頻段 。

量測方法選擇

根據待測物的損耗特性、型態、尺寸及目標頻率,選擇最合適的量測方法。
 

量測方法

適用損耗

主要應用頻段

優點

缺點

導波傳輸/反射法

中至高損耗

RF/微波

可同時量測電容率與磁導率 ;技術成熟 。

易受氣隙與樣品位移影響 ;樣品長度需避開半波長的整數倍 。

自由空間法

中等損耗

高頻/毫米波

非破壞性量測 ;適用於惡劣環境或大型樣品 。

需大型平坦樣品 ;易受多重反射與邊緣效應干擾 。

開放式同軸探棒法

高損耗

寬頻 (RF/微波)

樣品準備簡單,無需加工 ;量測速度快,適合液體與半固體 。

僅能量測反射 ;對氣隙敏感,準確度相對有限 。

共振腔法

極低損耗

特定共振頻率 (窄頻)

準確度極高,最適合量測低損耗材料 ;可量測微小樣品或薄層 。

窄頻技術,僅在共振點量測 ;需要高頻率解析度的 VNA 。

平行板法

低損耗

低頻 (LF)

使用簡便,成本適中 ;可接受液體樣品或置於環境艙中操作 。

僅適用於幾毫米內的薄樣品 ;高頻時受雜散電感與電容影響。

波紋波導法

中等損耗

毫米波/THz (25 GHz - 1.1 THz)

類高斯光束,減少繞射效應 ;校準簡單,重複性高 。

需要非常特定的設置 ;對極低損耗材料的分析能力有限 。


量測配置圖說


使用同軸線進行導波傳輸/反射法量測
 

使用天線與待測物進行自由空間法量測
 

使用波紋波導進行高頻材料特性分析
 

使用開放式同軸探棒量測液體樣品
 

使用共振腔量測待測物
 

使用平行板法與阻抗分析儀進行量測
 

資料轉換與分析

從 VNA 量測到的 S 參數需透過特定演算法轉換,才能提取出材料的複數電容率 (ϵ) 與磁導率 (μ)。

  • Nicolson-Ross-Weir (NRW) 演算法
    一種經典的轉換方法,但對樣品長度有限制,且不適用於低損耗材料 。
  • 迭代演算法
    可同時求解電容率與磁導率,不需精確的樣品放置資訊 。
  • 新型非迭代法
    一種快速且穩定的方法,適用於任意樣品長度且不需初始值猜測 。
  • 短路傳輸線 (SCL)
    一種單埠反射量測方法,僅適用於電容率計算 。

整合式量測治具

為確保量測的準確性與可重複性,搭配專為不同方法與應用設計的精密治具至關重要,本方案整合多家領導廠商的治具,提供一站式選擇。

KEYCOM 解決方案

  • DPS03 開放式共振器
    用於高頻 (20 GHz - 330 GHz)、超薄膜與低損耗材料的高準確度量測 。
  • DPS10 自由空間系統
    適用於厚樣品,可消除氣隙誤差 。
  • PER01 磁性量測系統
    專用於量測材料的複數磁導率,頻率範圍涵蓋 100 kHz 至 30 GHz 。


KEYCOM DPS03 開放式共振器治具
 

KEYCOM DPS10 自由空間量測設置

QWED 解決方案

  • 分裂柱介電共振器 (SPDR)
    基於共振法,為 PCB 層壓板等介電片材提供極高準確度的 Dk 與 Df 量測 。
  • 法布里-珀羅開放式共振器 (FPOR)
    提供寬頻 (5 GHz - 170 GHz) 的自動化、高準確度量測,並可分析平面內非等向性 。


QWED SPDR 量測設置
 

QWED FPOR 搭配 R&S ZNA 與升頻器的量測設置

SPEAG 解決方案

  • 介電評估套件 (DAK) 產品線:採用開放式同軸探棒法,提供從 4 MHz 到 67 GHz 的寬頻高精度量測 。
  • DAK-R 分裂圓柱共振器:符合 IPC 測試方法,可在單一儀器中提供 10 GHz 至 45 GHz 的多個共振頻率點量測 。

SPEAG DAK-R 量測設置
 

SPEAG DAK-TL2 材料測試套件與 DAK 儀器
 

SWISSto12 解決方案

  • 材料特性分析套件 (MCK):採用波紋喇叭天線的緊湊型治具,結合了自由空間與波導法的優點 。頻率可從 25 GHz 延伸至 1.1 THz ,測試流程快速且可重複性高 。


SWISSto12 MCK 治具系列

測試解決方案選擇

根據待測物的具體特性,選擇最佳的方法組合是成功的關鍵,下表提供一個快速參考指南。

材料與建議的量測及轉換方法

材料特性

量測方法

轉換方法

速度

準確度

高損耗固體/短/非磁性

傳輸/反射 (TR)

NRW

低損耗固體/長/非磁性

傳輸/反射 (TR)

NIST 迭代法 / 新型非迭代法

慢/快

生物樣品/半固體

開放式同軸探棒法

RFM

液體

開放式同軸探棒法

RFM / 參考液體

好/中

高溫/大型/平坦固體

自由空間法

NIST 迭代法 / NRW

慢-快

低損耗/小型固體

共振法

頻率與 Q 因子

下載完整解決方案白皮書 >

 

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