網路分析儀

R&S ZNBT 向量網路分析儀 (9 KHz - 8.5 GHz /40 GHz)

R&S ZNBT 向量網路分析儀 (9 KHz - 8.5 GHz /40 GHz)

R&S ZNBT (最高 40 GHz) 是真正的多埠 VNA,具備 24 個全相位同調埠,實現極短掃描時間和 140 dB 動態範圍,適用於 5G 天線、SI 和多埠元件測試。
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詳細介紹

R&S ZNBT 向量網路分析儀

具備 24 個全相位同調埠,實現極短掃描時間和 140 dB 動態範圍

 

R&S ZNBT 具備以下優勢,即使在埠數較多的情境下,仍能提供極短的量測時間,其他的特色包括寬廣的動態範圍、高輸出功率以及高功率承受能力的輸入端,該儀器提供四種頻率範圍型號:

  • R&S ZNBT8: 9 kHz 至 8.5 GHz
  • R&S ZNBT20: 100 kHz 至 20 GHz
  • R&S ZNBT26: 100 kHz 至 26.5 GHz
  • R&S ZNBT40: 100 kHz 至 40 GHz

這些特性使 R&S ZNBT 成為行動通訊、無線通訊和電子消費品產業的理想選擇,它成功應用於智慧型手機等行動通訊設備的主動和被動多埠元件射頻前端模組(Frontend modules)的開發和生產,其卓越的性能也讓基地台濾波器和其他高選擇性元件的有效分析成為可能。

憑藉其高頻率範圍和多測試埠,R&S ZNBT 可輕鬆實現高速訊號完整性(Signal Integrity, SI量測,以及如 5G 天線系統等多天線陣列(Multi-array antenna) 量測應用;R&S ZNBT 超越了以開關矩陣(switch matrix)為基礎的多埠量測系統,其高整合度使其成為分析多達 24 個埠元件的高整合度解決方案,佔用的機架空間不超過單個 R&S ZNB;其便捷的使用者介面使複雜的多埠量測也能輕鬆處理;R&S ZNBT 支援多種遠端控制選項,易於整合到自動化測試系統中,例如執行相控陣列天線(Phased-array antenna量測


R&S ZNBT20 正面視角 (24 埠)

關鍵特色

  • R&S ZNBT8 基礎單元為 4 埠,可升級至 8、12、16、20 或 24 埠。
  • R&S ZNBT20、R&S ZNBT26 或 R&S ZNBT40 基礎單元為 8 埠,可升級至 12、16、20 或 24 埠。
  • 寬廣頻率範圍:
    • R&S ZNBT8:9 kHz 至 8.5 GHz
    • R&S ZNBT20:100 kHz 至 20 GHz
    • R&S ZNBT26:100 kHz 至 26.5 GHz
    • R&S ZNBT40:100 kHz 至 40 GHz
  • 多達 24 個全同相位接收器(Fully phase coherent receivers)。
  • 寬廣動態範圍: 高達 140 dB。
  • 在 201 個量測點下,掃描時間極短:
    • R&S ZNBT8:2.5 ms
    • R&S ZNBT20:3.8 ms
    • R&S ZNBT26, R&S ZNBT40:3.9 ms
  • 寬廣功率掃描範圍: 高達 100 dB。
  • 高功率承受能力。
  • 中頻 (IF) 頻寬: 1 Hz 至 10 MHz。
  • 高溫穩定性: 0.01 dB/K。
  • 超過 100 個跡線(traces)和通道(channels)。
  • 簡便的多埠量測配置。
  • 針對多埠應用優化的手動和自動校準方法。
  • 相容於 R&S ZNx 系列所有向量網路分析儀。

R&S®ZNBT20 背面視角

真正的多埠 VNA

挑戰性多埠量測的理想平臺

R&S ZNBT 作為真正的多埠向量網路分析儀(True Multiport VNA,其設計核心在於每個測試埠均配備一個獨立的反射計 (Reflectometer),這種完全整合的獨特架構徹底消除了傳統依賴開關矩陣(Switch Matrix)的多埠系統中,訊號路徑因開關和纜線引入的額外損耗與串擾;因此,R&S ZNBT 能夠提供業界領先的射頻性能

  • 寬廣動態範圍高達 140 dB
  • 高輸出功率。
  • 極低的量測跡線雜訊
  • 卓越的原始指向性(Raw Directivity)和負載匹配(Load Match)。

憑藉這些完全整合的測試埠,R&S®ZNBT 不僅能輕鬆量測單個多達 24 的複雜元件,還能實現同時測試多個待測元件(DUT,大幅提升測試效率。

當速度至關重要

更短的測試時間與多種控制介面

該儀器的多埠架構可在所有待測元件(DUT)埠上實現同步測量;來自所有埠的數據皆同步擷取並並行處理,相較於基於開關矩陣的多埠系統,能大幅縮短掃描時間;其數位介面有助於加快自動測試週期,以同步測試設定中的外部元件;此外 Handler I/O 介面可用於控制外部自動分檢機(External Parts Handler

多樣化的選項與韌體功能

主動與被動元件的複雜分析

隨著高性能模組尺寸持續微縮,對測試複雜度的要求也隨之提高,R&S ZNBT 配備了豐富的多樣化選配和功能:

  • 超過 100 個軌跡線和通道,用於分析複雜元件的特性。
  • 廣泛的嵌入/去嵌入選項。
  • 對放大器和混頻器進行變頻量測
  • 時域分析,具備閘控功能(Gating function)並可顯示眼圖(Eye diagrams)。

多埠校準

各種校準方法與設備

R&S®ZNBT 提供適用於所有應用情境的校準方法,包括 TOSM、TSM、TRL/LRL、UOSM 等業界標準方法,透過搭配豐富多樣的校準配件,從手動校準套件多達 24 埠的自動校準單元,R&S ZNBT 能夠全面滿足所有使用者的校準需求


R&S ZNA-Z154 自動校準單元 (24 埠)

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