為雷達測試挑選訊號產生器？掌握這幾項關鍵參數就對了
雷達測試經常需要執行本地振盪器（LO, Local Oscillator）替代法，此程序是利用一部高效能合成器／訊號產生器的純淨輸出訊號，來替代系統中的本地振盪器，藉此進行故障查找，並對升、降頻轉換器進行完整的特性分析；在本文中，我們將深入探討挑選一部訊號產生器以有效評估現今雷達系統時，所需考量的幾項核心效能參數。
訊號產生器的關鍵參數
儘管需要考量的參數眾多，我們將聚焦於雷達測試應用中，三個最關鍵的訊號產生器特性——相位雜訊、頻率切換速度與成本。
相位雜訊
雷達的運作原理是向目標發射無線電波，並擷取其反射訊號，以解析出目標的尺寸和距離等資訊；而都卜勒雷達系統則能揭露更多動態資料，例如：目標的移動速度與方向，其原理是偵測反射訊號相對於原始無線電脈衝的頻率變化；此現象即為「都卜勒效應」，當目標朝著雷達系統移動時，訊號頻率會向上偏移；反之，當目標遠離雷達系統時，頻率則會向下偏移，這個概念，就好比警車沿路駛近再駛離時，我們聽到的警笛聲波高低變化。
在都卜勒雷達系統中，過高的本地振盪器相位雜訊，可能會遮蔽掉近距離的雷達回波，舉例來說，移動緩慢、僅有些微都卜勒頻移的目標，或是反射功率較低的微弱訊號，都很容易被過高的相位雜訊所掩蓋；因此，在雷達系統中執行本地振盪器替代法時，選用的訊號產生器必須具備極其優異的相位雜訊效能。
頻率切換速度
許多雷達系統需要在不同的操作頻率之間快速跳躍，這種頻率捷變能力之所以重要，其原因包含以下幾點：
- 避免干擾
- 提升對特定目標的偵測能力
- 抑制電子干擾的影響
不僅如此，不足的切換速度也會導致測試時間大幅拉長，一部具備高速切換效能的訊號產生器，能快速掃描廣泛的頻率與振幅範圍，不僅可滿足捷變雷達的需求，更能有效縮短整體測試時間。
成本
若想透過傳統架構，在單一儀器中同時達到理想的相位雜訊與頻率切換速度，通常會大幅增加價格，一部儀器的設計，往往只能針對一或兩項參數進行強化。
不同的合成器架構，例如直接類比合成（DAS, Direct Analog Synthesis）、直接數位合成（DDS, Direct Digital Synthesis）以及相位鎖定迴路（PLL, Phase-Locked Loop），雖然能針對特定效能進行改善，但每種架構也各自存在著不同的缺點，這些缺點可能會對測試過程造成阻礙。
那麼，訊號產生器要如何才能同時實現低相位雜訊、高速頻率切換與低成本這三大目標呢？ 答案就是 Boonton SGX1000 系列。
兼具卓越效能與價格優勢的訊號產生器
談到效能與價格，Boonton SGX1000 系列射頻訊號產生器能同時滿足這兩項嚴苛的要求。
SGX1000 系列採用獨家混合了 DAS 與 DDS 的架構進行設計，提供了超低相位雜訊（在 3 GHz 載波、10 kHz 頻率偏移下，指標為 -122 dBc/Hz）以及高達 350 µs 的頻率切換速度，其頻率範圍涵蓋 10 MHz 至 3 GHz 或 6 GHz (SGX1003/SGX1006)，以及 100 MHz 至 18 GHz (SGX1018)。
機種內建多種掃描模式選配，包括步進掃描（Step Sweep）和列表掃描（List Sweep），能滿足各種需要頻率與振幅掃描能力的測試情境，除了雷達應用外，SGX1000 系列也是元件特性分析、頻率捷變通訊系統，以及高產能的產線自動化測試等應用的絕佳解決方案。
應用說明
運用本地振盪器替代方案，實現精準雷達系統特性分析與快速故障定位
此技術白皮書深入探討雷達系統中的本地振盪器（LO）如何影響效能，特別是相位雜訊與切換速度，內容揭示如何透過高效能訊號產生器執行 LO 替代法，精準進行系統特性分析與故障診斷，確保雷達系統的靈敏度與可靠性，閱讀全文 >
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